中古 HITACHI S-3500N #9209481 を販売中

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製造業者
HITACHI
モデル
S-3500N
ID: 9209481
Tungsten scanning electron microscope (SEM).
HITACHI S-3500Nは、高解像度イメージング機能により材料科学研究に革命をもたらした走査型電子顕微鏡(SEM)です。これは、1。2ナノメートルまでの構造を解決することができ、今日利用可能な最高性能のSEMです。装置の主成分は電子銃である。この銃は非常に集中した電子のビームを生成し、その後、電磁レンズによってサンプルに向けられます。電子は試料と相互作用し、二次電子、後方散乱電子、X線を放出します。これらの放出は検出器によって検出され、コンピュータモニターに表示される画像に変換されます。S-3500Nは、材料科学研究のための優れた選択肢となる様々な機能と能力を備えています。超高解像度の3ガンイメージングシステムを搭載しており、データ収集の速度と精度を向上させ、オプションのモータ駆動ステージと超高解像度で、さまざまなサンプルサイズの迅速かつ正確なスキャンを可能にします。また、ハイコントラスト信号処理モードを備え、信号ノイズを低減し、コントラストを改善してサンプルをより鮮明に表示します。HITACHI S-3500Nは、優れた分析能力を有しています。エネルギー分散分光法(EDS)を使用することで、詳細な元素解析データを収集することができます。また、配列検出器、後方散乱電子検出器、カソドルミネッセンスイメージングなど、イメージングコントラスト用のさまざまな検出器を備えています。また、表面イメージング用の単色光と白色光の両方を備えています。S-3500Nは、さまざまな運用上の利点を提供します。ユーザーフレンドリーなインターフェースを備えており、楽器を素早く簡単にセットアップし、画像を取得できます。また、強力な画像処理ユニットを採用し、精度を高め、画像ノイズを低減します。最後に、そのソフトウェアは、3次元の再構築のためのさまざまな角度や視点から画像の複合物を作成することができます。結論として、HITACHI S-3500Nは、高解像度イメージングと幅広い分析・運用能力により、材料科学研究において優れた選択肢です。ユーザーフレンドリーなインターフェイスと強力な画像処理機を備えたこのSEMは、サンプルに関する正確で詳細な情報を取得する必要がある研究者にとって貴重なツールです。
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