中古 HITACHI S-3500 #9286928 を販売中

HITACHI S-3500 Scanning Electron Microscope （SEM）は、高倍率イメージングと解析機能を提供するコンパクトで高性能な装置です。S-3500 SEMの高解像度デジタルイメージング機能により、表面形態と組成の特性評価が可能です。その優れた焦点安定性により、正確な測定で高品質の画像を作成するための理想的な機器です。HITACHI S-3500 SEMは、0。2〜30kVの加速電圧を持つ電界放出電子源を備えています。この低ビーム照射により、高解像度の分析イメージングおよび分析のための高倍率イメージングに最適です。S-3500 SEMには、高い色収差を補正した対物レンズと、レンズ収差を低減するための低電圧カラムもあります。これらの特徴から、日立S-3500 SEMは絶縁体、ポリマー、非導電試料の観察に最適です。また、Everhatt型の可変圧力二次電子（SE）検出器、レトロフォーカス型の後方散乱電子（BSE）検出器、安定した銃/二次電子イメージングシステム、バックフォーカス制御、SEM信号電子乗算器など、いくつかのイメージングおよび解析システムもS-3500しています。これらのイメージングおよび解析システムは、優れた解像度、低真空イメージング機能、および表面微細構造と組成を評価する能力を可能にします。また、オートフォーカスシステムと高電圧スキャンビーム制御を備えた日立S-3500は、精密かつ正確な画像取得を可能にします。画像の明るさとコントラストの自動制御により、画像品質を最適化できます。このシステムには、サンプルの正確で簡単なアライメントを提供するフィールド試料アダプタも含まれています。S-3500 SEMには、直感的で使いやすいグラフィカルユーザーインターフェイスを提供するEverViewソフトウェアも含まれています。このソフトウェアは、画像の測定、解析、最適化を可能にし、HITACHI S-3500高度な画像解析アプリケーションに最適です。S-3500 SEMは、サブミクロンからミリメートルスケールまでの対象物の高解像度イメージングと解析を行うための高度で高性能な機器です。HITACHIは、高度なイメージングおよび解析システムと組み合わせた安定性と信頼性により、高性能なイメージングおよび解析を必要とするあらゆるアプリケーションに最適なツールとS-3500ています。