中古 HITACHI S-3400N #9384953 を販売中

HITACHI S-3400Nは、幅広い材料やサンプルに高解像度のイメージングと分析機能を提供する走査型電子顕微鏡（SEM）です。優れたAdvanced Parallel Electron Beam （APE）カラム上に構築され、最大10kVの加速電圧、最大200pAのビーム電流、5-200keVからのビームエネルギー拡散を誇り、材料の形状、構造、要素組成を高精度に測定できます。HITACHI S-3400 Nは、最小限の労力で最適な性能をキャリブレーションし、維持する高度な多極焦点アライメント装置（FAS）を採用しています。このシステムは、高精度の電子ビーム自動焦点メカニズムと空冷ユニットを備えており、長時間の観測でも機能を維持することができます。さらに、この汎用性の高い装置は6軸サンプルステージ制御を備えており、サンプルサイズは0。2mmから100mm、サンプル重量は4kgまでです。S 3400 Nの主な利点は、高解像度イメージング機能です。2段コンデンサーレンズを採用しており、開口部が高いため、試料中の複雑な構造や細部を0。2ナノメートルまで観察することができます。さらに、SE（二次電子）検出器と高感度SE検出器を内蔵しており、最適な速度でサンプルから正確な画像を得ることができます。S-3400Nはまた、サンプルを研究するための分析機能の広い範囲を提供しています。分解能0。1％までのEDX（エネルギー分散X線分光法）スペクトルと、分解能0。01％までのWDX（波長分散X線分光法）マップを取得できます。また、EBSD（電子後方散乱回折）観測にも使用でき、4つの異なる解析モードを備え、表面解析にも使用できます。表面解析には、1A/cm2を超えるクリーン電流から最大0.002A/cm2までの流動感度の高いサンプルまで、さまざまな表面状態があります。HITACHI S 3400 Nは、さまざまなアプリケーションに最適な性能を提供するために、さまざまな先進的な機能を提供しています。これには、サンプルの表面と下面を同時に観察できるデュアルビューモードと、サンプルの3D表面画像をキャプチャできる3Dモードがあります。さらに、高度なイメージング制御ツールにより、サンプルを観察しながら電子ビームを簡単に操作することができ、観察に関連する画像や設定、その他のデータを保存することができます。一言で言えば、S-3400 Nは、ユーザーが精密にサンプルを観察し、分析することを可能にするいくつかの分析およびイメージング機能を備えた高度な走査型電子顕微鏡です。高度なFASアセット、高感度検出器、強力なビームエネルギースプレッド、6軸サンプルステージ制御により、幅広いアプリケーションに最適な性能を提供します。