中古 HITACHI S-3400N #9316841 を販売中

HITACHI S-3400Nは、優れた性能を発揮する走査型電子顕微鏡（SEM： Scanning Electron Microscope）です。HITACHI S-3400 Nは、最大5nmの解像度で高解像度の画像を生成し、可変圧力技術により従来のSEMよりも高い信号とノイズ比を実現します。また、直径200mmまでのサンプルも可能で、幅広い用途に適しています。S 3400 Nは高度な電子銃とコントローラを備えており、電子ビームを正確かつ正確に制御することで、高品質な画像に理想的な環境を作り出します。さらに、このシステムは、2次電子と後方散乱電子、X線の強度と蛍光の4種類の信号を検出することができます。これらにより、より高い感度でさまざまなサンプル機能を検出することができます。HITACHI S 3400 Nには「、SmartNavigator」と呼ばれる高度なソフトウェアパッケージも含まれており、コントラスト、輝度、コントラスト範囲などの画像エフェクトを迅速かつ簡単に定義できます。この機能により、画像処理が簡素化され、画像操作の柔軟性が向上します。さらに、ソフトウェアパッケージには「直感的なパターン補正」機能が搭載されており、脱落、コントラストエラー、フィールド歪みを最小限に抑えることができます。S-3400Nはまた50から70万回まで広い倍率の機能の非常に広い範囲を提供します。さらに、システムの生成された画像は、アプリケーションに応じて、さまざまなデジタル画像処理ツールで見ることができます。これらのツールには、3Dおよび4D解析、および欠陥コントラストイメージングが含まれます。S-3400 Nは、ユーザーがUSBインターフェイスを介して外部のコンピュータにSEMから画像を転送することもできます。これらの特長と機能により、日立S-3400Nは、幅広い顕微鏡イメージングアプリケーション向けに包括的かつ強力なシステムを提供します。