中古 HITACHI S-3400N #9314475 を販売中
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販売された
ID: 9314475
Scanning Electron Microscope (SEM)
EDAX Genesis
AMTEK Apollo X
Computer
Monitors
Keyboard.
HITACHI S-3400Nは、画像の鮮明性、再現性、解像度を最大化するために使用される走査型電子顕微鏡(SEM)です。これは、大規模な画像とデータが必要な産業設定を容易にするように設計されています。HITACHI S-3400 NにはEverhighTMセンサーと呼ばれる高感度デジタルイメージング装置が搭載されており、より高い解像度とより良いコントラストイメージングが可能です。このデバイスはまた、広い視野と詳細をキャプチャするためのオプションの大きな対物レンズを持っています。EVERHIGHTMセンサーは、最大1000×1000ピクセルの解像度で15フレーム/秒を超える大面積スキャンも可能です。S 3400 Nは、HITACHI Multi-Stage® Control Softwareによって制御されます。このソフトウェアは、ユーザーが電子銃から放出される電子の倍率、焦点、およびエネルギーレベルを調整する機能など、さまざまな機能や機能にアクセスすることができます。マルチステージコントロールソフトウェアを使用すると、画像の正しいスポットサイズを選択したり、将来使用するための画像を保存したりすることもできます。HITACHI S 3400 Nは、イメージング機能に加え、サンプル解析も可能です。この顕微鏡は電子ビームを介して、材料を分析するためにエネルギー分散分光法(EDS)とX線蛍光法(XRF)を行うことができます。安全性に関しては、S-3400 Nは、漏れが所定のレベルに達したときに電子の放出を自動的に停止する2段階の伝達機構を備えています。このデバイスには、サンプルチャンバーが常に非破壊圧であることを保証する自動システムも装備されています。結論として、S-3400Nは洗練された強力な走査型電子顕微鏡であり、サンプルの高解像度および詳細な画像をキャプチャするのに理想的です。高度なイメージングとサンプル分析機能、強力なソフトウェア、安全機能を備えたHITACHI S-3400Nは、信頼性の高い正確な画像を提供します。
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