中古 HITACHI S-3400N #293808981 を販売中

HITACHI S-3400Nは、材料研究、故障解析、生物学研究など、さまざまな用途に使用できる走査型電子顕微鏡（SEM）です。この顕微鏡は、0。5ナノメートルの小さな特徴を解像することができる高分解能イメージングを提供します。真空チャンバーを備えており、電子散乱を低減し、画質を向上させます。HITACHI S-3400 Nには、分光解析機能を強化する単色X線検出器があります。これにより、研究者はさまざまなサイズのサンプルで元素、化学、結晶同定解析を実行することができます。この検出器は非常に高い感度を持ち、ナノメートル範囲までの構造の違いを検出することができます。S 3400 Nは2軸スキャンメカニズムを持ち、10cmの大きなスキャンエリアを備えています。これにより、サンプリング領域と取得した画像の解像度を簡単に調整できます。高解像度の取得により、試料と試料の間のわずかな境界シフトや不一致を検出することができます。この顕微鏡はインレンズ検出器も備えており、低真空または高湿度の条件下でも高精度の画像を提供します。S-3400Nには、Secondary Electron Imaging （SEI）、 Backspactered Electron Imaging （BEI）、 Energy Dispersive X-ray Spectroscopy （EDS）、 X線 Fluorescence （XRF。また、解像度と画像のコントラストを拡大できるソースサイズ制御機能も備えています。HITACHI S 3400 Nは、様々な研究・解析用途に使用できる高度な走査型電子顕微鏡です。これは、高解像度の画像処理とデータ収集のためのいくつかのコントラスト方法を提供します。単色X線検出器とインレンズ検出器を備え、低真空または高湿度条件での高精度画像を実現します。また、2軸スキャンメカニズムとソースサイズ制御機能も備えています。S-3400 Nは信頼性が高く効率的であり、様々な材料や生物研究用途に使用できます。