中古 HITACHI S-3400N #293653432 を販売中

HITACHI S-3400Nは、有機試料と無機試料の両方を高解像度で撮影・解析できる電界放射銃を搭載した走査型電子顕微鏡（SEM）です。HITACHI S-3400 Nは、電子バリウム絶縁（EBI）コーティングを施した銃装置を内蔵しており、イメージング時の表面充電を大幅に低減します。これは、画像のファジネスを防ぎ、非常に詳細なサンプルのイメージングを可能にします。このシステムは、0。2ナノメートルのダイナミックレンジで優れた分解能を備えており、非常に明瞭な小さな構造の比類のないイメージングを可能にします。また、S 3400 Nは、0。01〜20kVの範囲の加速電圧オプションを提供し、さまざまなサンプルのイメージングを可能にします。また、X-Yステージには粗く細かいインクリメント設計が施されており、正確なサンプルナビゲーションと倍率が可能です。このステージには、自動リターン機構と、サンプルの正確な位置を常に表示するデジタル読み出しユニットもあります。また、HITACHI S 3400 Nには、3つの倍率、高倍率、電子の蓄積、1。2nmの分解能とX線と電子感度の両方を備えた、非常に現実的な画像をレンダリングするインレンズ検出器が含まれています。これにより、サンプルの内部表面構造と化学組成を分析するために使用できる3次元画像を生成することができます。S-3400Nは、10-10 torr未満の残留ガスレベルを持つ低真空機と、10-11 torr未満の残留ガスレベルを備えた超高真空ツールを備えています。これにより、超高真空を短時間で組み込み、粒子の散乱や表面充電を大幅に削減できます。S-3400 Nには、より正確なサンプルの配置と操作を可能にする大容量チャンバー、ユーザーが設定を保存して迅速なイメージングのためにそれらを呼び出すことができる自動操作アセット、特定のイメージングおよび分析タスクのためにSEMをさらにカスタマイズするための幅広いアクセサリーとコンポーネントのオプションがあります。HITACHI S-3400Nは、有機試料と無機試料の両方を高解像度で解析することができる高度な走査型電子顕微鏡で、構造特性や化学組成の詳細な解析が可能です。HITACHI S-3400 Nは、EBIガンモデル、強力なインレンズ検出器、強力な低真空および超高真空装置など、独自の機能を備えており、正確で信頼性の高い結果を得ることができます。