中古 HITACHI S-3400N #293618150 を販売中
URL がコピーされました!
タップしてズーム
ID: 293618150
ヴィンテージ: 2007
Scanning Electron Microscope (SEM)
EPS-PC
Computer terminal
Pumps
Accessories
2007 vintage.
HITACHI S-3400Nは、各種試料の高解像度イメージングを可能にする先進的な走査型電子顕微鏡（SEM）です。この装置は、最大50,000xの倍率でサンプルの詳細な画像をキャプチャすることができ、最大44度の真空チャンバーを備えています。HITACHI S-3400 Nは、高性能検出器、マイクロプロセッサ制御エレクトロニクス、独自の「スマート」ソフトウェアパッケージなど、さまざまな機能を備えています。S 3400 Nは、焦点電子ビームを生成するためにタングステンフィラメント電子銃を使用しています。このビームは、スキャンデフレクターによって導かれて、サンプル表面を照射するために使用されます。この相互作用の結果として生成された二次電子は、機器の検出器によって検出されます。S-3400 Nの最先端の機能である検出器にはシンチレータが内蔵されており、検出された二次電子の正確な定量化が可能です。これにより、表面と地下の両方の領域におけるサンプルの非常に詳細なイメージングが可能になります。HITACHI S 3400 Nに同梱されているソフトウェアパッケージは、機器を制御するための使いやすいインターフェースを提供します。「SmartScope」と名付けられたこのパッケージは、電子銃の電圧、スキャンサイズ、スキャン速度を調整することができます。さらに、SmartScopeを使用すると、同じサンプルエリアの複数の異なる画像を取得し、それらを1つの画像にすばやくコンパイルできます。イメージング設定をカスタマイズするこの機能は、S-3400Nが提供する強力な倍率と組み合わせることで、機器をあらゆる実験室で非常に汎用性が高く貴重なツールにします。HITACHI S-3400Nは高信頼性で、冷却システムを一体化しているため、性能劣化がなく安全に使用できます。また、ラベル付きのコントロールと明確なユーザーインターフェイスを備えた直感的な操作も可能です。さらに、装置は、さまざまなサイズと種類の試験片に対応するために調整可能です。結論として、HITACHI S-3400 Nは、様々なサンプルタイプの高解像度イメージング用に設計された高度で汎用性の高い走査型電子顕微鏡です。タングステンフィラメント電子銃、堅牢な検出器、直感的なソフトウェアパッケージを備えたS 3400 Nは、あらゆる実験室で比類のない性能と使いやすさを提供します。
まだレビューはありません