中古 HITACHI S-3400N #293616105 を販売中

HITACHI S-3400N走査型電子顕微鏡は、各種サンプルの高度なイメージングと特性評価を目的としたハイエンド機器です。HITACHI S-3400 Nは、高度な高解像度イメージングにより、比類のないサンプルインサイトと解析を提供します。S 3400 Nは、広い視野と高解像度スキャン機能を提供します。これは、1ナノメートルまでの即時ビームステミング解像度と低ビーム電流安定性を備えたユニークなスキャン技術を備えています。これにより、低倍率でも高品質の画像が保証されます。さらに、S-3400 Nは、高度なイメージングおよびオートメーション機能により、処理時間を短縮し、解析を高速化することもできます。HITACHI S 3400 Nには複数の検出器オプションがあり、アプリケーションに最適な検出器を選択できます。一般的な検出器には、背面散乱電子検出器（BSD）、第二次電子検出器（SED）、反射電子検出器（RED）などがあります。これらの検出器はそれぞれ、サンプルのイメージングと分析に異なるアプローチを提供し、ユーザーに幅広いオプションを提供します。S-3400Nはまた、詳細なサンプル組成分析のためのエネルギー分散X線分光法（EDS）を実行することができます。EDSは、X線ビームとサンプル基板の相互作用から生じる非光学的化学分析の一種です。その後、日立S-3400Nの機能を通じてサンプル組成と元素サーフェスマッピングを可能にします。その他、高温チャンバー、調整可能な傾きS-3400傾き補正、真空制御オプションなどがあります。これらの機能はすべて、強化されたイメージング機能と最適化されたパフォーマンスをユーザーに提供するために連携して機能します。S 3400 Nは、高度なイメージング技術と検出オプションに加えて、ユーザーフレンドリーで操作しやすい直感的な制御システムも備えています。このユニットにはタッチスクリーンLCDインターフェースが装備されており、ユーザーはメニューをすばやくナビゲートし、特定の設定や機能に素早くアクセスすることができます。イーサネット接続により、世界中のどこからでもS-3400 Nを使用できます。結論として、HITACHI S 3400 Nは強力なイメージングおよび特性評価機であり、さまざまなサンプル材料や表面に対する比類のない洞察をユーザーに提供することができます。高度なイメージングとオートメーション機能、直感的な制御ツール、ユーザーフレンドリーなタッチスクリーンLCDインターフェースを備えたS-3400Nは、初心者でも上級者でもハイエンドの検出と分析をお探しの方に最適です。