中古 HITACHI S-3400N Type II #9328867 を販売中

HITACHI S-3400N Type IIは、高精度のイメージングと解析を行うために高度な技術で設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。生命科学や物質科学、マイクロエレクトロニクス、ナノエレクトロニクスなど幅広い分野に最適です。このSEMは、84nmの解像度で詳細な画像を生成することができます。この機器はデュアル加速電圧を備えており、2つの異なる倍率でイメージングと解析を実行できます。S-3400N タイプIIには、熱感受性試験片のイメージングおよび分析用の温度チャンバーがあります。5°C〜350°Cの温度で動作するため、半導体基板からナノ構造材料までの解析に最適なツールです。アクセラレータレンズの設計はCloverleaf設計に基づいており、0。6nmの解像度までの画像と解析が可能です。このツールは、低真空視野放射電子銃を備えており、作動距離とノイズ除去を備えた高コントラストイメージングを実現します。HITACHI S-3400N Type IIには、元素分析用の256チャネルEDXシステムを備えたエネルギー分散型X線検出器があります。真空能力が低いため、非導電性材料と高導電性材料の両方を分析することができます。また、高分解能イメージング、蛍光信号、エネルギー分散型X線分光法（EDS）など、幅広い解析を提供しています。このインストゥルメントは、ユーザーが簡単にマシンを操作できる強力なグラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）で動作します。ユーザーは、さらなる調査のために分析されたデータを保存して保存することができます。また、記録されたデータの一部を比較できるサンプルイメージライブラリも備えています。S-3400N タイプIIには、位置決めと画像ナビゲーションのための自動キャリブレーションシステムがあり、画像の正確な位置決めとナビゲーションに役立ちます。このハイエンドSEMは、多くの分野の極端なイメージングと分析ニーズを満たすように設計されています。HITACHI S-3400N Type IIは、高度な技術、精密な測定、幅広い分析能力を備え、幅広い研究分野に最適な装置です。