中古 HITACHI S-3400N Type II #293604796 を販売中

HITACHI S-3400N Type II Scanning Electron Microscope （SEM）は、多種多様な研究および産業用途のニーズに対応するために設計された高性能、多分野ツールです。S-3400N Type IIは、幅広いイメージングおよび解析機能を備えており、高いイメージング性能と優れた柔軟性を提供し、高解像度イメージングを必要とする研究者や産業実験者にとって貴重な資産となっています。HITACHI S-3400N Type II SEMは、独自のデジタルイメージング・解析装置を備えた高真空二次電子検出器です。インレンズダブルフィールドコンデンサー、エネルギー分散型X線検出器、5軸ステージを採用しています。金属、セラミックス、半導体など多種多様な材料で高分解能イメージングが可能です。S-3400N タイプII SEMは、最大720万xの高倍率レンジを備えており、ユーザーは細部を明確かつ正確に表示することができます。4要素の対物レンズは、広い視野を持つ小さな粒子や標本の高解像度イメージングを提供します。HITACHI S-3400N Type II SEMの高解像度イメージングおよびスキャン領域には、3Dマッピングユニットが組み込まれており、幅広い自動解析機能を提供しています。3Dマッピングマシンは、複数の角度から画像を取得し、サンプルの微細構造を測定することができます。S-3400N タイプII SEMは、オートフォーカスやオートクエンチなど、さまざまなオートメーション機能を備えており、効率と生産性を向上させます。オートフォーカス機能とオートクエンチ機能により、サンプル検査、分析、イメージングを自動化できます。HITACHI S-3400N Type IIは、サンプルの衝突防止ツールも備えています。それは潜在的な衝突を検出し、潜在的な損傷から敏感なサンプル表面を保護できます。S-3400N タイプIIの走査型電子顕微鏡はいろいろな研究および産業適用に使用することができる多目的で、信頼できる分析用具です。高度なイメージングおよび解析機能、広範囲の倍率、および包括的なオートメーション機能により、高性能な機器をお探しのお客様に最適です。HITACHI S-3400N Type II SEMは、高い解像度と柔軟性を備えており、優れた機能を備えた高性能イメージングデバイスを必要とする人にとって不可欠です。