中古 HITACHI S-3400 #293665940 を販売中

HITACHI S-3400はパワフルな走査型電子顕微鏡（SEM）で、焦点を当てた電子ビームを使って表面をスキャンし、試料の高解像度画像を生成します。この高性能SEMは、有機材料から金属、半導体基板など、さまざまなサンプルの詳細な画像を提供するように設計されています。HITACHI S 3400は電子ビームを1nmの大きさに集中させるために一次電子光学系を利用しています。これにより、高解像度イメージングに最適です。この電子顕微鏡の作動距離は12〜25mmで、広範囲の標本を撮影することができます。この顕微鏡の真空システムは、低真空でも高真空でも動作することができます。S-3400には、後方散乱電子検出器、二次電子検出器、傾斜検出器の3つの検出器があります。これらの検出器は、ユーザーがさまざまなモードでサンプルをイメージすることを可能にします。後方散乱電子検出器は表面地形の画像を生成し、二次電子検出器はサンプルの化学組成に関する情報を得るために使用されます。傾き検出器は、ユーザーがサンプルの傾きを理解するのに役立ちます。この顕微鏡は画面傾斜機能を備えており、ユーザーが画面を傾けて表示面の異なる視点を得ることができます。さらに、この顕微鏡には適応多電圧（AMV）技術が組み込まれており、幅広いサンプルで最適なイメージングを得るために電子ビーム電圧を調整することができます。S 3400は、解像度と倍率の配列で画像を収集する機能をユーザーに提供し、最大解像度は0。2nm、最大倍率は20万倍です。これにより、マイクロメーターからナノメートルスケールまで、さまざまなサンプルの詳細な画像を取得できます。この顕微鏡には、標本の動きを制御することでイメージングプロセスを容易にすることができるインテリジェント制御システムであるAuto Scanning Automation Systemも装備されています。これにより、イメージングプロセスを高速化できます。結論として、日立S-3400は高度で強力な走査型電子顕微鏡です。その機能の範囲は、それがサンプルの広い範囲をイメージし、さまざまなイメージングモードでこれを行うことができます。その制御システムは、画像処理を容易にし、小規模な標本を画像化するための理想的な選択肢となります。