中古 HITACHI S-3200N #9208242 を販売中

HITACHI S-3200Nは、様々な材料の微細構造やナノ構造を探査するために設計された先進的な走査型電子顕微鏡（SEM）です。ステージと高解像度検出器を内蔵した先進的なデジタルスキャン装置を搭載し、高イメージコントラスト、解像度の向上、被写界深度の向上を実現しています。HITACHI S 3200 Nは、自動化された再現可能なサンプルマウントとステージスキャンのためのハイスループット、オートステージシステムを備えています。ハイコントラスト二次電子イメージング（SEI）、後方散乱電子イメージング（BSEI）、電子分散分析、エネルギー分散分析（EDS）など、さまざまな高度なイメージング技術を顕微鏡で使用できます。S-3200Nにより、0。5倍から1000,000x倍までの様々な対物レンズと0〜10mmの作動距離で高解像度の画像を撮影することができます。S 3200 Nのレンズ校正ユニットは、これらの画像が真で正確であることを保証します。HITACHI S-3200Nは、ユーザーが画像取得を最適化するために必要なSEMパラメータを調整できるスキャン制御機能を備えています。真空が最適に動作していることを確認するために、自動校正手順が使用されます。この顕微鏡は、ノイズ抑制装置と、ノイズ干渉を低減するダイナミックフィルタリング技術を備えています。HITACHI S 3200 Nのステージコントロールツールは、ナノメーター単位でx、 y、 z軸で再現可能な精度で自動ナビゲーションを可能にします。このステージには、X軸とY軸での正確なサンプル位置決めを可能にする傾きと回転機能、および表面イメージングのための回転サンプル位置決めも備えています。S-3200Nには、ユーザー定義エリアとサンプル内のパーティクルを正確にカウントできる自動カウント機能も含まれています。これは、サンプル中の粒子分布を分析するのに役立ち、粒子サイズ分布と気孔率を理解するのに役立ちます。S 3200 Nは、1つのサンプルから複数の画像を自動的に撮影することができます。この機能は、時間の経過とともにサーフェスの変化を監視したり、サンプル表面の完全な3D画像を作成したりするために使用できます。この顕微鏡は、画像処理、解析、データ/結果共有のためにPCに接続することもできます。HITACHI S-3200Nは、高性能スキャン電子顕微鏡のために設計され、様々な材料やサンプルで高度なイメージング機能を提供します。HITACHI S 3200 Nは、ステージと自動化されたシステムを内蔵しており、精密なナノ科学研究に最適です。