中古 HITACHI S-3200N #293769423 を販売中

HITACHI S-3200Nは、材料科学、エレクトロニクス、生物学の応用分野における高度なイメージングおよび分析研究用に設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。優れた性能、信頼性、柔軟性を備えたハイエンドSEMです。HITACHI S 3200 Nは、ステージ間移動能力を備えた可変圧力SEMで、高解像度のショットキーフィールドエミッションガンを搭載しています。S-3200Nの高速スキャン装置は、最大2,500fpsの画像取得速度が可能です。10nm Cs補正された超高解像度光学システムのおかげで、SEMは高コントラストで高解像度の画像を簡単に作成できます。S 3200 Nには、ナビゲーションだけでなく、手動または自動サンプルスキャンをサポートする多機能ステージもあります。自動化された欠陥検査や複雑な形態学的研究に使用できる高度な画像解析ユニットを備えています。HITACHI S-3200Nの集積エネルギー分散型X線 （EDX）装置は、SEMの要素解析と組成解析を可能にします。4つのソリッドステート検出器を備えたEDX検出器、EDXスイベルユニット、および検出器冷却ユニットを備えています。EDXは、高品質なデータを迅速かつ正確に収集することができ、深度プロファイリング、マイクロ領域解析、ポイント解析など、さまざまな分析に使用できます。HITACHI S 3200 NのInsight Softwareは、分析をより効果的かつ効率的に行うように設計されています。マッピング、3D再構築、画像レビューなど、さまざまな分析ツールを備えています。また、自動セグメンテーションやパーティクル分析などの異常検出や高度な機能もサポートしています。メンテナンスの容易さのために、S-3200Nはユーザーが簡単に設定を構成し、楽器の状態を確認することができるソフトウェアパッケージが付属しています。このソフトウェアを使用すると、ユーザーはSEMの詳細な仕様とトラブルシューティングガイドにアクセスできます。さらに、ユーザーはオンラインで部品や消耗品を注文し、SEMの操作のリアルタイム画像を表示することができます。要約すると、S 3200 Nは、先端材料科学、エレクトロニクス、および生物学アプリケーション向けに設計されたハイエンドSEMです。優れた性能、柔軟性、エネルギー分散型X線装置により、幅広いイメージングおよび解析機能をユーザーに提供できます。インサイトソフトウェアは、SEMの操作を容易かつ効率的にし、オンライン部品の発注とリアルタイムイメージング機能により、メンテナンスを容易にします。