中古 HITACHI S-3200H #9005308 を販売中

HITACHI S-3200Hは、一般的な分析目的で設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。高解像度のイメージング、優れたサンプルスループット、高度な分析機能を提供します。S-3200Hは、電子銃の配置を変更することなく、結晶構造（<001>までの向き）またはSTEM（<111>までの向き）モードで画像を取得することができる3軸銃装置を装備しています。また、ハイコントラスト画像や収差補正されたSTEM-HAADFイメージング用のフィールドエミッションガン（FEG）を搭載しています。低電圧（1〜30kV）、高速スキャンレート（最大15,000ピクセル/秒）で高解像度のイメージングを実現します。当社S-3200Hは、超高分解能イメージング用に設計されたインレンズ二次電子イメージングユニットと、粒子や薄膜の結晶配向の定量解析に使用される電子後方散乱回折（EBSD）装置を含む高度な検出システムを特長としています。このツールの検出器は、組み込みの計算能力と組み合わせて、自動EBSDマッピングや電子断層撮影などの高度な解析技術を可能にします。S-3200Hには、元素分析用のエネルギー分散X線分析（EDS）資産と、発光材料分析用のカソドルミネッセンス（CL）モデルも備えています。EDS装置は周期表からホウ素までの元素を分析することができ、CLシステムはZnSやリンなどの材料からの発光に敏感になるように設計されています。HITACHI S-3200Hは、操作を合理化し、データ分析を容易にするように設計された、ユーザーフレンドリーで直感的なソフトウェアインターフェイスのセットを備えています。このユニットは、AutoSEMやCrossBeamなどの他のソフトウェアプラットフォームとも完全に互換性があります。最後に、S-3200Hは人間工学に基づいた省スペース設計で優れたサンプルハンドリング機能を提供します。ユーザーは、アプリケーションの要件に応じて、上部または下部からサンプルを照らすことを選択できます。また、幅広いサンプルホルダーに対応できるように設計されており、システムまたはラボ間でサンプルを簡単に転送できます。