中古 HITACHI S-3200 #9243691 を販売中

HITACHI S-3200は、高倍率のイメージング試料用に設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。最大解像度1。5ナノメートルのこのSEMは、ナノスケールの特徴を観察することができます。その観察範囲は、最大200,000X倍まで拡張することができます。S-3200には、サンプル中の軽元素と重元素の両方の画像をキャプチャするための、逆散乱および二次電子検出器（BSDおよびSED）システムが装備されています。BSDおよびSEDシステムは、特許取得済みの低温フィラメントと組み合わされ、顕微鏡が低真空信号をキャプチャすることができます。この信号品質の向上と組み込み測定機能の強化により、手動ステージ調整なしでサンプル寸法を素早く測定できます。HITACHI S-3200は、高倍率でサンプルを正確に画像化するために設計された効率的な電子光学カラムも備えています。クロスバーデフレクタと電極で構成される多段コンデンサ光学系を採用し、ビーム形状を調整してサンプルに合わせます。さらに、電子ビームの異常を解消し、高分解能イメージングを実現するために、磁場を統合しました。S-3200の設計には2つの目的があり、包括的なイメージングが可能です。最初の目的は、表面検査のためのトップビューの目的です。フォーカスの深さが増し、解像度が向上し、トップダウンと角度のあるイメージングが可能です。2つ目の目的は、2ビームイメージングと信号ギャップの増加のために設計された2 ビームBSDの目的です。また、HITACHI S-3200は、観測時の揺れや振動を最小限に抑えるため、低ドリフトステージ設計を採用しています。この設計は、空気素子と温度制御された気流を利用して、観測中のサンプルを安定した状態に保ちます。S-3200は広範囲の環境条件の下で作動します。その自動調整機能は、さまざまな温度/湿度レベルにすばやく適応し、常に正確な動作を保証します。HITACHI S-3200には、既存のステージ設定アルゴリズムがあり、必要に応じて作業環境を迅速に切り替えることができます。さらに、S-3200は高度なデータ収集と分析機能を提供します。高速な画像キャプチャ、自動化をサポートし、直感的な画像管理システムを備えています。また、3Dオートメーションと画像操作機能を備えているため、ナノスケールのサンプル機能を精査しやすくなります。HITACHI S-3200は全体的に、高倍率のイメージング試料用に設計された先進的な走査型電子顕微鏡です。背景散乱および二次電子検出器、低ドリフトステージ設計、高度なデータ収集および分析など、幅広いイメージング機能を提供します。さらに、S-3200の自動チューニングおよびステージ設定アルゴリズムにより、さまざまな環境条件下での非常に安定した動作が可能です。したがって、日立S-3200はナノスケールのイメージング用途に最適です。