中古 HITACHI S-3000N #9314032 を販売中

HITACHI S-3000N走査型電子顕微鏡（SEM）は、材料の形状、構造、組成を顕微鏡レベルで観察する高性能イメージング装置です。このSEMは、長時間の作業距離と広い視野を持ち、生物学的および無機標本の詳細な観察を可能にします。HITACHI S-3000 Nには、300 μ Aの高いビーム電流と20 kVの高い加速電圧を発生させることができる電子カラム内にコールドフィールドエミッションガン（FEG）が装備されています。この高いビーム電流と電圧により、ナノメートルスケールの構造や、粒界、沈殿物などの詳細を明確に観察することができます。さらに、高ビーム電流により、S 3000 Nは優れた被写界深度の高解像度画像と画像を実現できます。HITACHI S 3000 Nには、二次電子、逆散乱電子、傾斜イメージングモードなど、さまざまなイメージングモードがあります。これらの異なるモードの組み合わせは、異なる角度で撮影された最大4つの同時画像をユーザーに提供します。これにより、複雑な試料構造の高コントラスト、超高分解能イメージングが可能になります。イメージング効率を最大限に高めるために、S-3000 Nは10-2 Paの低真空と0。3 μ mの高精度のプログラム可能なステージで動作できます。この組み合わせは、ビームの動きを最小限に抑え、画像のシャープネスを最大化するのに役立ちます。S-3000Nはまた、大量の画像から定量的なデータを抽出するために使用することができる自動粒子分析システムを備えています。これにより、手動粒子解析に伴う時間とコストを削減できます。HITACHI S-3000Nのモジュラー設計は、将来のアップグレードや専用アプリケーションのカスタム構成にも柔軟に対応します。例えば、自動サンプルチェンジャー、温度コントローラ、生体観察ユニットなど、さまざまなアクセサリと簡単に統合できます。HITACHI S-3000 Nは、ナノメートルスケールでサンプルの詳細な画像をキャプチャできる高性能スキャン電子顕微鏡です。高度な機能とモジュール設計により、故障解析、ライフサイエンス研究、半導体分析、教育など、さまざまなイメージングおよび分析アプリケーションに最適な機器です。