中古 HITACHI S-3000N #9283816 を販売中

HITACHI S-3000N Scanning Electron Microscopeは、幅広いサンプルの高解像度イメージングおよび化学分析用に設計された最先端の走査型電子顕微鏡（SEM）です。その高度な設計により、解像度は1。3nmまでと非常に小さくて壊れやすい粒子の観察を可能にします。この顕微鏡は、広い被写界深度のサンプルを撮影することができ、3Dイメージングに適しています。HITACHI S-3000 Nは、高度な光学設計と2段ミニファイナルレンズにより、広い被写界深度を実現します。その広い被写界深度は、不規則な形状の構造の3Dイメージングとイメージングを可能にします。その広いフィールドプレナムチャンバーはまた、均一な画像解像度と拡大を可能にします。その二次電子検出器は、高感度と優れた信号対ノイズ比を可能にするように設計されています。S 3000 Nはまた、安定性と精度を確保するフィードバックや読み出しエレクトロニクスを含む高精度の制御システムを誇っています。その高い電源設計により、最高品質のイメージングおよび化学分析結果を調整することができます。PCなどの各種周辺機器とのインターフェースにより、イメージング、化学分析機能、データ処理を制御することができます。また、多機能リモートコントローラを備えており、イメージングと化学分析機能とデータ処理を簡単に切り替えることができます。S-3000Nのイメージング機能も優れています。その無限可変イメージングスポットは、高感度の強烈な逆散乱電子イメージングを可能にします。その可変ビーム電流と可変ビームスポットサイズを使用すると、必要な結果に適切な設定を選択できます。また、可変傾斜段は運動範囲が広いため、個々の粒子や3D物体を容易に観察することができます。また、高速かつ正確な元素分析のためのインライン二重管X線マイクロアナリシスを備えています。最後に、S-3000 Nは非常にユーザーフレンドリーです。直感的なメニューを備えた高度なインタラクティブヒューマンマシンインターフェイス（HMI）を備えており、使いやすいです。HITACHI S 3000 Nは、高度なハードウェアとソフトウェアにより、画像と化学の解析機能をサブミクロンレベルの解像度まで提供し、最高品質の結果を提供します。