中古 HITACHI S-3000N #9258338 を販売中

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製造業者
HITACHI
モデル
S-3000N
ID: 9258338
Scanning Electron Microscope (SEM).
HITACHI S-3000Nは、ナノスケールのイメージングと解析に使用される強力な走査型電子顕微鏡(SEM)です。これは、電子顕微鏡分野の最新の進歩を取り入れた、環境に密封された反転型電子顕微鏡です。HITACHI S-3000 Nは、高分解能イメージングシステム、広視野、非常に安定した電子ビームなど、高度な機能を備えています。イメージングシステムは、5または10の従来の電子検出器(CED)、またはオプションの5/10ギガ/メガピクセルのEverhart-Thornley検出器を使用しており、使用する検出器に応じて、15kVで最大1。2 nmの解像度が得られます。直径80mmまでの広い視野により、より大きなサンプルを撮影することができます。安定した電子ビームおよび自動焦点制御は焦点の狭い深さおよび正確な結果を可能にします。S 3000 Nはまた、幅広いサンプル分析機能を提供します。オプションのElectron Backscatter Diffraction (EBSD)システムにより、表面の結晶構造を高分解能で調べることができます。電子分散X線分光法(EDS)は、化学特性評価や元素マッピングに使用できます。エネルギー分散型X線分光法(EDX)は、元素拡大やナノ分析に使用できます。S-3000Nには高度な画像処理とデータ管理システムが組み込まれており、ユーザーは高品質の画像をキャプチャして再作成することができます。付属のMultiQ G@PC Analysisソフトウェアを使用すると、詳細な画像を作成し、さまざまな表面分析を実行できます。サンプルホルダー、多数の検出器、段階および据え付け品を含むS-3000 Nとの使用のための多くの付加的な任意部品は利用できます。これらの部品はすべて、材料科学、生物学、ナノテクノロジーの幅広い用途に使用することができます。HITACHI S-3000Nは、強力で高性能な走査型電子顕微鏡であり、高度なイメージング、解析、データ管理機能を提供します。HITACHI S-3000 Nは、広い視野、高解像度イメージング機能、優れたサンプル分析機能を備え、高度なSEMアプリケーションに最適なツールです。
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