中古 HITACHI S-3000N #9249990 を販売中

HITACHI S-3000N
製造業者
HITACHI
モデル
S-3000N
ID: 9249990
ヴィンテージ: 2003
Scanning Electron Microscope (SEM) 2003 vintage.
HITACHI S-3000Nは、優れた光学性能と強力な分析機能を組み合わせ、高解像度のイメージングとサンプル材料の分析を可能にする走査型電子顕微鏡(SEM)です。電子ビームを利用してサンプルの表面をスキャンし、データを収集します。高品質の画像は0。1nmの解像度を持ちます。HITACHI S-3000 Nは、真空ポートを備えた大きなテーブルステージや、非常に感度の高いeverhart-thornley検出器など、従来のSEMよりもはるかに優れた二次電子の検出を可能にする幅広い機能を備えています。everhart-thornley検出器は、コントラストと解像度を向上させ、より高い倍率画像を可能にします。この顕微鏡は、画像やデータの迅速な分析を可能にするデータ処理システムを内蔵しています。S 3000 Nは複数のタイプの電子銃の設計を利用し、適用の条件によって目的レンズの選択を、提供します。ズームレンズは、最大3000xの倍率を提供することができます。この顕微鏡は、ナノメートルスケールの精度で画像を解析するために使用できる変位検出器と、自動画像処理を可能にする高度な人工知能システムを備えています。S-3000 Nは、クリーンで安定した作業環境を提供し、サンプル汚染を低減するための高効率ガス流量システムを備えています。また、幅広い解析モードとイメージングモードを提供し、様々な種類のサンプルを正確に分析することができます。HITACHI S 3000 Nは、イメージングおよび分析機能に加えて、サンプルの元素分析を可能にするエネルギー分散分光計や高速スキャナなどのオプションのアクセサリも提供しています。S-3000Nには、3Dイメージングと分析のためのツールを提供するソフトウェアツールもあります。結論として、HITACHI S-3000Nは、幅広いアプリケーションに強力な分析およびイメージング機能を提供する高度な走査型電子顕微鏡です。高解像度イメージングと強力な分析機能、高度な機能とオプションのアクセサリを組み合わせて、サンプルの正確なデータ取得、分析、イメージングを可能にします。
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