中古 HITACHI S-3000N #9243774 を販売中

HITACHI S-3000N
製造業者
HITACHI
モデル
S-3000N
ID: 9243774
Scanning Electron Microscope (SEM).
HITACHI S-3000Nは、様々なサンプルの高解像度イメージングと表面解析を目的とした走査型電子顕微鏡(SEM)です。二次電子、後方散乱電子、X線信号、光信号を利用して、試料表面を高倍率で観察します。SEMは、正確なサンプルの向きと観察のための高真空カラムで構築されています。最大285mmの作動距離を持ち、直径100mmまでの幅広い試験片を可能にします。この顕微鏡は、1。5 nmの解像度に達する能力を持つ列冷却式Eガンテクノロジーを利用しています。この技術は、高解像度の画像をキャプチャすることができ、最大の画像領域を可能にします。HITACHI S-3000 Nは、独自の検出器デザインを採用し、さらなる性能向上を図っています。マルチチャンネル検出器は、大きなサンプルを処理することができ「、自動利得レギュレーション」(AGR)モードが装備されています。この高度な制御システムは、試験片の観察条件に関係なく最適な画質を維持するように設計されています。S 3000 Nには、サンプルアライメントシステム(ASA)が搭載されており、サンプルローディングとアライメントを簡単に行うことができます。さらに、電子を常時監視するインコラム偏向レンズ(DFL)を搭載しています。これにより、最適なサンプル分析と表面イメージングが保証されます。S-3000 Nは、従来のTEED、デジタルイメージング、スポット分析、スキャンなど、さまざまなイメージングモードで構築されています。デジタル画像処理システムも搭載しており、TEMイメージングに最適です。全体として、S-3000Nは強力で汎用性の高い走査型電子顕微鏡で、比類のない精度で様々なサンプルを分析することができます。その高度な機能と技術により、3Dイメージングやサンプル分析だけでなく、表面構造の観察にも最適です。
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