中古 HITACHI S-3000N #9208239 を販売中
URL がコピーされました!
タップしてズーム
ID: 9208239
ヴィンテージ: 2000
Scanning Electron Microscope (SEM)
Option: W4010 Water chiller
Magnification: 15x to 300000x (143 steps)
Resolution:
Secondary electron image resolution:
3.0 nm (Vacc 25 kV, high vacuum mode)
Back-scattered electron image resolution:
4.5 nm (Vacc 25 kV, variable pressure mode)
Voltage: 0.3 - 30 kV
Specimen size: 150 mm Diameter maximum
View monitor: 17" LCD Type
Operation: Mouse and sub control pad
PC: PC/AT Compatible
Operating system: Windows NT
Electron gun:
W (Tungsten)
Hairpin type
Stages:
X-Axis: 0 - 100 mm
Y-Axis: 0 - 50 mm
Z-Axis: 5 - 40 mm
Tilt: -5 ~ +60°
Rotation: 360° (Non step)
Vacuum pumps:
(2) Rotary pumps
Diffusion pump
(2) HITACHI CuteVac VR16L-K Rotary pumps
Control system:
TV Fast mode
TV Flow mode
1-4 Step slow mode
Reduce mode
Power / Utility:
PCW: 1-1.5 liter/min
Pressure: 0.5-1 kg/cm³
Pressure dry air (PDA): 5 kg/cm³
AC 100 V, Single phase, 5 kVA within GND
2000 vintage.
HITACHI S-3000Nは、先端材料の研究・分析用に設計された先端走査型電子顕微鏡（SEM）です。この顕微鏡には高解像度のフラットフィールド光学機器が装備されており、サブミクロメータの分解能を可能にしています。また、イメージングパラメータの微調整を可能にするインコラムエネルギーフィルタを採用しています。また、0。01ボルトの高電圧電源を搭載しており、精密かつ正確なイメージングが可能です。HITACHI S-3000 Nは、標準圧力と可変圧力の両方のサンプル表示が可能です。高感度の二次電子イメージングと後方散乱電子は、試料表面の様々な特徴を観察することができます。さらに、このデバイスは他の画像処理システムと同期しており、相関研究を行うことができます。このデバイスにはX線分析装置が装備されており、結果は自動最適化アルゴリズムを介して分析することができます。これにより、最高品質のSEMイメージングとサンプル分析が可能になります。さらに、顕微鏡には自動ステージ制御システムと自動エッジ検出機能が搭載されており、一貫性のある再現性のあるイメージングが可能です。このユニットには、イメージングパラメータの微調整を可能にする、自動化されたパラメータ最適化プロセスが含まれています。さらに、このデバイスは粒子サイズ解析ソフトウェアと統合されており、サンプル上のフィーチャーの迅速かつ効率的な測定および分析を可能にします。全体として、S 3000 Nは材料の研究と分析のために設計された高度な走査型電子顕微鏡です。最先端の光学およびエネルギーフィルタリング機械、自動化されたパラメータ最適化、および正確なX線分析により、このデバイスはさまざまなサンプルを研究するための強力なツールとなります。
まだレビューはありません