中古 HITACHI S-3000N #9189738 を販売中

HITACHI S-3000Nは、高分解能の走査型電子顕微鏡（SEM）です。高度な室温二次電子（SE2）検出器を搭載し、最適な画質と優れた画像解像度を提供します。また、画像の設定や解析に要する時間を短縮する、複数の自動化機能も備えています。HITACHI S-3000 Nは耐久性に優れ、信頼性とメンテナンス性に優れています。このマシンは、30kV冷陰極電子ソースと3段コンデンサと客観的なカラム構成を備えています。これにより、より小さなレンズをより細かいビーム電流で使用することができ、画像解像度が向上します。さらに、クロスフィールド補正器と小さなスポットイメージングモードがあり、電子ビームに敏感なサンプルを撮影することができます。S 3000 Nは、0。02 nmのステップ分解能を実現できる高速で高精度なスキャンシステムを備えています。これにより、ミクロンからナノメートルまでのサンプルサイズの正確な分析データが可能になります。標準的な画像解析機能に加えて、高速表面画像スキャンや対象領域スキャンなどの機能も強化されています。HITACHI S 3000 Nは、SE-Sigma Control Toolという標本制御用の革新的な機械も備えています。このアセットは、解剖学的ステージ、サンプルチェンジャー、ステージローテータに正確で線形な動きを提供します。これは、複数のスキャンにわたって再現性のある正確な標本位置決めを保証するのに役立ちます。最後に、S-3000Nには、低エネルギー電子に最適化された最先端のビーム照射法が含まれています。これは、メルトバックと充電効果からサンプル保護を促進します。この装置には、コラムレンズやその他の表面のビルドアップを軽減するように設計された、いくつかの自動クリーニングルーチンもあります。全体として、S-3000 Nは高度で信頼性の高い顕微鏡モデルであり、高解像度で優れた画像コントラストを画像に提供することができます。自動化されたツールとユーザーフレンドリーなインターフェースにより、機器は使いやすくなりますが、革新的なビーム照射方法と試験片の制御システムは、最適なサンプル保護と再現性のある正確な分析を保証するのに役立ちます。