中古 HITACHI S-3000N #9156366 を販売中

HITACHI S-3000Nは、さまざまな画像処理を行う高性能スキャン電子顕微鏡（SEM）です。1。0 nmのサイズの材料をスキャン、イメージング、操作することができます。顕微鏡の電子銃は、高出力の電子ビームを生成し、その後、サンプル全体に集中してスキャンし、詳細な仮想画像を生成します。試料は電子ビームにさらされ、試料中の電子と相互作用し、デジタルイメージングシステムによって検出される信号を生成します。HITACHI S-3000 Nにはスキャンシステムが内蔵されており、短時間での取得・解析が可能です。デジタルシグナルプロセッサ（DSP）を搭載し、イメージセンサーと一緒に動作し、最大0。3nmの解像度で画像データを提供します。これにより、標準的なSEMでは識別が困難な非常に小さな機能を画像化して分析することができます。S 3000 Nは、結晶やナノ構造を特徴付けるための幅広い機能を備えています。その高度な解析機能は、結晶構造、表面形態、および組成情報の特性評価を可能にします。SEMには高分解能（HR）検出器が含まれており、非常に小さな特徴を解析するための二次電子感度が向上しています。HR検出器は、画像のコントラストと奥行きを向上させ、ひび割れ、隙間、傷などの隠れた特徴を識別することができます。イメージング機能に加えて、S-3000 Nは焦点を当てたイオンビーム（FIB）機能を備えています。FIB技術により、ユーザーはイオンの直接書き込み、エッチング、および沈着を通じてサンプル表面を修正し、加工することができます。これにより、サンプル内の微細な機能をすばやくクリーニング、修正、特性評価することができます。FIBツールを使用すると、エネルギー分散型X線分光法（EDS）を使用して、サンプルのスペクトルおよび化学組成を分析することもできます。S-3000Nにはさまざまなステージとホルダーが付属しています。これにより、ユーザーはサンプルに適した向きと環境条件を選択できます。これらのステージとホルダーには、モーター式、3軸（x、 y、 z）ステージ、およびSEM効率を最大限に高めるように設計された低真空ステージがあり、ユーザーは広い領域をすばやく取得できます。全体的に、HITACHI S 3000 Nは、非常に小さな物体や構造の詳細な画像を提供できる高度な走査型電子顕微鏡です。その高倍率と広範な解析機能は、ナノの世界を研究し、研究する科学者のための理想的な選択肢となります。