中古 HITACHI S-3000N #293748791 を販売中

製造業者
HITACHI
モデル
S-3000N
ID: 293748791
ヴィンテージ: 1999
Scanning Electron Microscope (SEM) 1999 vintage.
HITACHI S-3000Nは、ハイエンドの分析性能と高度な人間工学を備えた走査型電子顕微鏡(SEM)で、直感的で効率的で高品質なイメージングに理想的なソリューションを提供します。材料科学、ナノテクノロジー、半導体、ライフサイエンス、エレクトロニクスなど、さまざまな産業に適しています。HITACHI S-3000 Nは、VP (Variable Pressure) SEM技術を活用して、表面トポロジーの広いサンプルでも、より高い画質、より詳細な情報、より高速な処理を可能にします。これは、ex vivoサンプルからも最適な結果を得るのに役立ちます。また、直接電子検出器を備えており、X線ノイズを低減し、最大300Kx倍の高画質イメージングを実現します。S 3000 Nは高解像度の電界放出電子源とキセノンロッカブルコンデンサーレンズを備えており、画像のぼかしや汚染を低減します。さらに、サンプルローディングとステージコントロールシステムにより、迅速で再現性の高いサンプル位置決めと試験片の処理能力の向上により、イメージングワークフローを合理化します。また、エネルギー分散X線分析(EDXA)、エネルギーフィルタイメージング(EFI)、走査伝送電子顕微鏡(STEM)、電子後方散乱回折(EBSD)などの総合的な分析機能を備えています。この一連の分析技術により、ナノ構造、ならびに元素および化学組成、および材料および結晶構造の位相変動のイメージングが可能になります。最後に、S-3000 Nはカスタマイズ可能なユーザー設定で完全に自動化された操作を備えており、超高速イメージングを可能にします。また、データ処理と自動レポート生成のための高度なソフトウェアも備えています。この高度なソフトウェアは、より大きなデータセットの取得、より高速なイメージング、より大きなデータセットのデータ処理と分析、および迅速かつ効率的にレポートを生成する能力を可能にします。全体として、S-3000Nは高度なイメージングシステムであり、ユーザーはハイエンドの分析性能と高度な人間工学にアクセスして、ex vivoサンプルからでも優れた画像と高品質の結果を得ることができます。その可変圧力(VP) SEM技術、直接電子検出器、高分解能フィールド放出電子源、キセノンロックコンデンサーレンズ、およびシングルボタン自動スキャンは、信頼性の高い性能と直感的な操作を提供します。さらに、包括的な分析スイート、自動化された操作、データ処理および自動レポート用の高度なソフトウェアにより、直感的で効率的で高品質なイメージングを提供し、さまざまなイメージングアプリケーションに最適なソリューションです。
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