中古 HITACHI S-3000N #293732535 を販売中

HITACHI S-3000N
製造業者
HITACHI
モデル
S-3000N
ID: 293732535
ヴィンテージ: 2002
Scanning Electron Microscope (SEM) (2) RV12 Rotary pumps Detectors: SE (ET) and BSE (solid state) High vacuum and VP Mode 5-Axes motorized stage: 50x,100x PC Operating system: Windows XP Power supply: 230-100 V 2002 vintage.
HITACHI S-3000Nは、多目的走査型電子顕微鏡(SEM)で、クリーンルームの環境下で、生きた標本とサンプルの両方の高解像度画像を撮影するために設計されています。300,000xまでの拡大が可能で、広い視野を備えているため、ナノスケール構造の観察や解析に最適です。HITACHI S-3000 Nは、高解像度イメージング用に0。7ナノメートルの分解能を提供します。その合理化されたデザインは、操作を容易にするためのインタラクティブなユーザーインターフェイスを備えており、あらゆる実験に合わせてさまざまなスキャンモードを備えています。これには、二次電子イメージングと選択領域電子回折が含まれる。S 3000 Nには、研究者が試料表面の粒子や領域の組成を評価できるようにするために、逆散乱電子検出器(BSD)とエネルギー分散分光計(EDS)が装備されています。検出器は、カソドルミネッセンス(CL)オプションとともに、高精度で微妙な組成と地形の変化を検出することができます。HITACHI S 3000 Nには、幅広い分析機能も搭載しています。高分解能走査透過電子顕微鏡(HR-STEM)により、物体の内部構造を解析することができ、電子後方散乱回折(EBSD)を用いて定性的かつ定量的に結晶特性を解析することができます。S-3000Nはまた段階のオートメーションおよび真空の部屋から生きているサンプル適用のための探知器に付属品の配列と、カスタマイズすることができます。広々とした80mmサンプルチャンバーにより、幅広い試料サイズと形状の加工が可能です。S-3000 Nはハイスループットイメージング機能を備えているため、多数のサンプルを迅速かつ正確にスキャンできます。SEMはイベントコントロール装置とモニタリングシステムに接続することで、操作を自動化し、高いデータスループットを提供できます。また、HITACHI S-3000Nには、画像とスキャンの両方で干渉や歪みを排除する振動制御ユニットが搭載されています。これは、アイソレーションテーブル、テレビスキャンコントローラ、および非真空測定機を使用することによって実現されます。SEMは印象的なイメージングおよび分析機能の範囲を提供します。その汎用性、品質、価値は、日立S-3000 Nを様々な分野の研究者や科学者にとって魅力的な選択肢としています。
まだレビューはありません