中古 HITACHI S-3000N #293668111 を販売中

製造業者
HITACHI
モデル
S-3000N
ID: 293668111
Scanning Electron Microscope (SEM).
HITACHI S-3000Nは、汎用材料分析に適した走査型電子顕微鏡(SEM)です。この装置には、高性能のエバーハートソーンリー型二次電子(SE)検出器が搭載されており、優れた品質とディテールの画像を得ることができます。また、HITACHI S-3000 Nには、0。5〜30kVの幅広い加速電圧出力で動作するように設計された電子ビームカラムを搭載しています。これにより、有機試料や無機試料など、さまざまな材料を調べることができます。S 3000 Nにはオプションのバックスキャッター電子検出器(BSD)も搭載しており、異なる標本の表面特性を調べることができます。この高度な電子光学機器は、優れた画像解像度を維持しながら強力な倍率機能を提供することができ、研究者は試料の細部まで正確に可視化することができます。また、電子カラムの高度な設計により、1。7nmから30nmまでの最小のスポットサイズまで、ビームスポットサイズを精密に調整することができ、多種多様なサンプルを詳細に調べることができます。HITACHI S 3000 Nは、標準のサンプルスタブ、サンプルチルト、サンプルブラッカー、サンプルステージなど、幅広いサンプルチャンバーやアクセサリーも取り揃えています。統合されたサンプルチャンバーは、さまざまな試験片の簡単なローディングと操作を可能にするように設計されており、サンプルオートメーションが改善され、より一貫した正確な結果が得られます。さらに、このチャンバーには2つの大穴式試料ホルダーが装備されており、複数の試料ホルダーを同時に設置することができます。S-3000Nは、数ナノメートル以上のXYステージ制御用リニアモータ駆動システムを使用して、優れた測定精度を維持するように設計されています。また、低kV領域でも画像解像度が印象的な視野を作り出すことができるコールドフィールドエミッションガン(FEG)を搭載しています。S-3000 Nは、非常に安定したサンプルイメージング環境を可能にする焦点安定性管理機で、標本の良好な焦点安定性を達成することができます。このツールは、サンプル位置の変化を正確に追跡して補正するため、頻繁な調整を必要とせずに多くの反復可能な画像が得られます。HITACHI S-3000Nの電子的・ソフトウェア的側面にも言及する価値があります。ソフトウェアは、直感的なユーザーインターフェイスと分析ツールの広い配列を提供するだけでなく、USB/RS232インターフェイスを介してデータを取得することもでき、PCシステムと完全に互換性があります。HITACHI S-3000 Nは、豊富な機能と機能を備えた高品質のSEMをお探しのお客様に最適です。
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