中古 HITACHI S-3000H #9309415 を販売中

HITACHI S-3000Hは、ナノメートルスケールでの標本の高解像度画像を提供するために設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。この装置は、電子の集束ビームを使用して試料の表面をスキャンし、非常に詳細な画像を作成します。このSEMは、人気のあるSEM、 S-3000Nの設計をモデル化し、必要に応じてスキャン精度と解像度を向上させるための高度なアップグレードが可能です。また、直感的なユーザーインターフェイスを備えているため、スキャン電子顕微鏡プロセスを効率的かつ簡単に実行できます。このSEMは、高エネルギー電子ビームを利用して試料と直接相互作用し、二次電子、後方散乱電子、X線スペクトルなどの多様な信号を生成します。これは、他の光学顕微鏡では検出できない現実的な組成情報を提供するのに役立ちます。HITACHI S 3000 Hは、高画像処理にも対応しており、高温スキャンと低温スキャンの両方に使用できます。S-3000Hのマイクロアナリシス機能により、材料科学、医学、研究開発、一般的な顕微鏡分析など、幅広い用途に最適です。サンプルの微細構造を分析し、その電気的および機械的特性を測定し、その表面層の欠陥を検出するために使用することができます。このSEMは最大1 nmの解像度を持つため、ビーム電圧を上げる必要なく高精度な画像を得ることができ、サンプルに非常に損傷を与える可能性があります。また、この顕微鏡は、必要に応じて焦点を調整するオートフォーカス機能を備えており、ずれによる画像の歪みを防ぎます。S 3000 Hは、可変圧力システムとして動作するように構成することもできます。この機能により、サーフェスチャージのリスクが低くなり、サンプルの表面が敏感な場合、またはサンプル環境が可変の場合、SEMのイメージング性能が向上します。最後に、HITACHI S-3000Hには、環境への侵入やサンプルへの影響から有害な電離放射線を遮断するエネルギーリダクションフィルターが取り付けられています。これにより、機器の動作の安全性が向上し、使用による環境負荷が低減されます。