中古 HITACHI S-3000H #293597903 を販売中
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ID: 293597903
ヴィンテージ: 2010
Scanning Electron Microscope (SEM)
Tungsten gun
EDS Type: LN2
SE Detector: High
Magnification range: 300.000x
Operating system:
SEM: Windows XP
EDS: Windows XP
2010 vintage.
HITACHI S-3000H Scanning Electron Microscopeは、高度な電子検出システムを搭載したパワフルな光学系を備えた高解像度の広視野画像装置です。HITACHI S 3000 Hは、高度な電子イメージング技術とパワフルな光学技術を組み合わせ、極めて短時間でサンプルの詳細な超高解像度イメージングを提供するように設計されています。S-3000Hは、0。5 keV〜30 keVの加速電圧を持つ高分解能フィールド放出電子カラムを備えています。高解像度検出器は、検出感度を高め、画像ノイズを低減することができます。標本の段階は10 xから90 xの倍率までスキャンすることができます。統合されたビームアライメントシステムは、調整可能なビーム収束角度を提供し、イメージングに理想的なサンプル表面を確保します。高度なステージシステムにより、ダイレクトビューモードでの迅速な試料スキャンが可能になり、従来の方法よりも短時間で試料を均一に照射できます。これにより、振動効果が低減され、スキャン時の安定性と均一性が向上します。さらに、その大口径はobject-to-objec tとsample-to-background imagingの両方を可能にします。S 3000 Hの強力な光学系は、粒子を0.1µmのように小さくクリアに画像化することができ、材料ベースの微細構造、合金の成分、材料のさまざまな相など、材料科学のさまざまな分野を調査するのに理想的な機器です。また、粒子解析、汚染解析、故障解析において、日立S-3000Hは大きな強みを有しています。全体として、HITACHI S 3000 Hスキャン電子顕微鏡は、高解像度イメージングおよび顕微鏡分析に最適なツールです。優れたイメージング品質、解像度と感度の向上、メンテナンス要件の低さを提供します。高度な電子検出システムを搭載しており、多種多様なサンプルをより迅速かつ容易に詳細に研究することができます。
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