中古 HITACHI S-2700 #9200117 を販売中

HITACHI S-2700は、表面の詳細な観察、解析、イメージングに使用される走査型電子顕微鏡（SEM）です。これは、高解像度のイメージングと非常に細かいスケールでのサンプルの分析を可能にする高度な機器です。S-2700は、0。3ナノメートルのレベルまで優れた画像解像度を提供します。最大200kVまでの加速電圧を備えた超高電圧電子銃を搭載し、イメージコントラストと詳細なイメージングを実現しています。HITACHI S-2700は、可変チャンバー形状、二次電子イメージング、逆散乱電子イメージング、デジタル画像解析（DIA）、定量解析用ラインスキャンなど、幅広い高度な機能を提供しています。さらに、効率的かつ正確なサンプル調製のための完全装備の真空システムも装備されています。S-2700のサンプルチャンバーは、その円滑な動作を容易にします。エアーベアリングスキャンステージを使用することで、サンプル操作を容易かつ正確に行うことができます。サンプルは、サンプルチャンバーのX軸とY軸で任意の方向に監視することができます。さらに、Z軸は、目的の画像に応じて焦点を合わせることができます。これは、通常、イメージングの延長期間中に得られる最大解像度を得るのに役立ちます。このシステムは、エネルギー分散分光法（EDS）および電子逆散乱回折（EBSD）機能を使用して、サンプル構造のより詳細な分析を取得します。これにより、サンプルの組成と結晶構造をよりよく理解することができます。また、HITACHI S-2700は、高感度の電子ビーム検出器により、微弱な元素信号を検出することができます。さらに、S-2700は、より正確な分析と解釈のための自動イメージステッチおよびポストイメージ処理ツールも備えています。サンプルチャンバーは、電子顕微鏡検査に使用されるクライオ伝達ステージ、検出器、フィルムホルダーなどの各種アクセサリと互換性があるように構成されています。結論として、HITACHI S-2700は、サンプル表面の詳細な解析とイメージングを得るための強力なツールです。高度な検出機能、可変チャンバジオメトリ、ポストイメージング処理ツール、自動化されたイメージステッチにより、詳細な表面解析に適したSEM機器となります。S-2700は、正確なサンプル操作と解像度を0。3ナノメートルまで再現可能な結果を提供します。