中古 HITACHI S-2600N #293657550 を販売中

HITACHI S-2600Nは、高いサンプルスループットと精密イメージングのために設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。高解像度イメージングと高度な測定技術を容易にする多種多様な機能を備えています。S-2600Nは、フィールドエミッションガン（FEG）電子源を備えており、最大0。8nmの非常に高い分解能と高い充電安定性回路を提供し、より高いサンプル安定性を提供します。この高解像度により、ユーザーはより細かい機能をイメージし、より高品質な結果を出すことができます。FEGはまた、30kVから8kVまで、幅広い加速電圧を提供します。また、HITACHI S-2600Nは、従来のSEMよりも広い被写界深度で最大0。36nmの解像度を実現できる超磁化オーバーパーフェクトフィールド（Uperf）機能も提供しています。これにより、S-2600Nで調べることができるサンプルの範囲が広がり、詳細な観察が容易になります。HITACHI S-2600Nには、高精度X-Yムーブメント用のZピエゾモーターステージも装備しています。これにより、サンプルの自動調製プロセスに不可欠な迅速な位置決めとステージモンタージュ機能が可能になります。さらに、Zピエゾモーターステージは、10nmまでのアライメントとモーションコントロール精度を提供し、非常に微細なサンプル分析のための正確なサンプル位置決めを可能にします。S-2600Nには、新たに設計されたガス検出器装置があり、任意のサンプルから排出されるガスの微細な組成変化を検出することができます。このシステムを使用することで、炭素、酸素、窒素などの元素を分析することができ、サンプルの組成や化学反応に関するより良い洞察を得ることができます。また、HITACHI S-2600Nは、サンプル汚染を最小限に抑え、長時間の動的真空レベルを維持する頑丈な真空ユニットで設計されています。この機械は他のSEMより長い作業時間を可能にし、サンプルのより詳細な検査を可能にします。全体として、S-2600Nは様々なアプリケーションと研究ニーズのための高度な走査型電子顕微鏡です。解像度、清潔度、および作業時間の延長の組み合わせは、詳細かつ正確なイメージングを実現するために探している研究者にとって理想的なソリューションです。