中古 HITACHI S-2400 #9080006 を販売中

HITACHI S-2400 Scanning Electron Microscope （SEM）は、ナノスケール天体の高解像度観察・解析を可能にする高性能分析イメージングシステムです。高速動作や精密な3D解析など、さまざまな機能を備えています。S-2400は環境走査型電子顕微鏡で、温度や湿度などの特定の環境条件にさらされるサンプルを正確に測定するように設計されています。高いスループットを持ち、毎秒50フレームまでの速度でサンプルをスキャンすることができます。また、画像取得時の電子ビーム安定性を高めるため、2段の電界放射砲を備えています。HITACHI S-2400には、標準的な明るい視野モード、3D立体顕微鏡モード、X線マイクロ分析モード、バックスカッタリング電子（BSE）イメージングモードなど、複数のイメージングモードがあります。明るいフィールドモードは、画像を非常に高解像度に大幅に拡大するために使用されます。3D立体顕微鏡モードは、高深度のサンプルの微細な解析に最適です。X線マイクロ分析モードは、サンプルの特定の要素を分析するために使用することができ、BSEモードは、サンプル内にどの要素や分子が存在するかを検出するのに役立ちます。S-2400にまた減らされた圧力の下でイメージの決断を改善できる選択可能な低真空の環境の部屋があります。これにより、壊れやすいサンプルを損傷なく観察することができます。低真空チャンバーは素早くロードしてアンロードすることができ、画像取得時間を高速かつ効率的にします。HITACHI S-2400は、さまざまなアクセサリーと組み合わせることで、機能を高めることができます。これには、X-Yステージ、試料ホルダー、各種真空システムなどの半導体デバイスが含まれます。これにより、低真空スキャン、低角度イメージング、高温解析用の環境チャンバ、追加のイメージング機能など、幅広い機能が可能になります。S-2400は、さまざまな機能と機能を組み合わせて、研究者や科学者が解像度と精度を向上させたさまざまなナノスケール、生物学的および材料サンプルを調べることができます。その選択可能な低真空環境チャンバー、幅広いイメージングモード、および一連のアクセサリにより、幅広い用途に適しています。