中古 HITACHI S-2300 #165214 を販売中

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製造業者
HITACHI
モデル
S-2300
ID: 165214
SEM Resolution: 4.6 nm Accelerating voltage: 0.5 to 25 kV (selectable in 35 steps) Magnification: 20 to 200,000x Maximum specimen diameter: 150mm Specimen goniometer stage: Noneucentric: X: 80mm Y: 40mm R: 360° T: -20° to 90° Z: 30mm Super eucentric: X: 32mm Y: 32mm R: 360° T: -90° to 90° Z: 30mm Automatic control: brightness / contrast, focusing, astimatism correction Memory function: magnification presetting (desired 2 points), accelerating voltage memory, specimen position memory Signal processing: Gamma control Image display and recording: commercial TV scan, slow scan (4 steps), reduced area scan, waveform, photo scan (3 steps), twin photo, automatic data display Configuration: Column unit Display Oil rotary pump Auto transformer Standard tools Spares and consumables Instruction manual.
HITACHI S-2300 scanning electron microscope (SEM)は、幅広い材料や用途に対応する高性能で最先端のイメージングシステムです。高い自動化と優れたイメージング能力を兼ね備えた走査型電子顕微鏡です。S-2300 SEMはクラス最高の解像度ツールであり、材料分析、故障解析、表面イメージング、3Dイメージングなど、さまざまなアプリケーションで使用されています。HITACHI S-2300は、高精度のステージとの統合のために、加熱タングステンフィラメントからなる大口径源を備えたハイブリッド型スキャン電子カラムを使用しています。これにより、スキャンされた領域は、高解像度と高コントラストで迅速かつ正確に配信されます。また、TMF (Traveling Magnetic Field)検出器を備えており、信号対ノイズ比を向上させると同時に、加速電圧範囲を低減します。この技術により、従来の電子検出器では一般的に検出されない非導電性サンプルのより良いイメージングが可能になります。スキャン機能に加えて、S-2300は電子ビームイメージングの高度なアプリケーションのための幅広い機能を提供しています。その高い真空性能は、結晶構造のイメージングのための高加速電圧の使用をサポートします。これにより、サブミクロンサイズの特徴のイメージングが可能になり、原子レベルまで内部構造を見ることができます。3Dオートフォーカスを使用して、オペレータの介入なしでフォーカスを調整することができます。ステージ制御と顕微鏡の自動キャリブレーションを自動化することで、最も正確なサンプルでも汚染されていないイメージングが可能になります。また、HITACHI S-2300には、サンプルと検出器のずれを検出するアライメントシステムもあります。これは、サンプル配置の精度に関する迅速なフィードバックを提供することができ、画像内の任意の不具合を修正するために使用することができます。また、粒子解析、デジタル画像処理、3Dビューなどの高度な分析オプションを提供するさまざまなソフトウェアパッケージも組み込まれています。S-2300は材料分析および画像処理のための非常に有能な顕微鏡であり、研究および企業の広い応用のために適しています。HITACHI S-2300は、高度な技術と高性能で優れたイメージング解像度を組み合わせることで、高い精度と精度を必要とするアプリケーションに独自のレベルの精度と制御を提供します。
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