中古 HITACHI IS 3200SE #293672029 を販売中

HITACHI IS 3200SE Scanning Electron Microscope （SEM）は、超小型サンプルの解析用に設計された第5世代SEM装置で、幅広い圧力および温度条件にわたって優れたビーム安定性と完全性を備えた高分解能イメージングを可能にします。IS 3200SE SEMは、これまでにない自動化、感度、倍率、解像度、明瞭性を実現します。最先端のデフレクタ設計と高レベルのシステム技術により、柔軟性とユーザビリティが向上し、イメージング精度が向上します。HITACHI IS 3200SEは、サンプルサイズと温度の互換性、高加速電圧、高度な半導体レベルのイメージング、高精度イメージングなど、さまざまな機能を提供します。このユニットには、高度な画像解析機能と完全に自動化されたサンプルステージも含まれており、すべての測定が正確かつ正確に行われます。IS 3200SEの高速スキャンと高解像度イメージング技術により、ユーザーはサブミクロン構造を最高精度で解決し、分析することができます。高精度のステージを搭載し、振動を最小限に抑え、画像取得の安定性を確保します。HITACHI IS 3200SEは、安定した性能で、電子回折、ナノファブリケーション、ナノユートメーションのアプリケーションに最適です。さらに、IS 3200SEは半導体ウェーハなどの高導電性非磁性試料を保持できる導電性試料ステージを備えています。また、正確な測定を得るために、安定したイメージングとステージスキャンが可能です。HITACHI IS 3200SEは、サンプル仕上げとサイズの面で最大限の柔軟性をユーザーに提供するように設計されています。自動化されたサンプル交換ツールだけでなく、さまざまなサンプルサイズや種類に対応するための幅広いサンプルホルダーやアクセサリーが装備されています。最後に、IS 3200SEは、ユーザーが詳細かつ包括的な走査電子顕微鏡を行うことができます。この資産は、金属酸化物半導体（MOS）デバイスの製造や材料分析などのアプリケーションで非常に効果的です。そのユニークなデザインは、ユーザーが特定のニーズに基づいてイメージングパラメータをカスタマイズすることもできます。全体として、日立IS 3200SE Scanning Electron Microscopeは、SEM解析における最新の技術進歩を提供し、これまでにない精度と柔軟性を実現します。高解像度イメージング、複雑な測定の自動化、電子回折、ナノオートメーションのアプリケーションに最適です。