中古 HITACHI I6300 #9236029 を販売中

HITACHI I6300走査型電子顕微鏡（SEM： HITACHI Scanning Electron Microscope）は、幅広い用途に精密なイメージングおよび分析機能を提供するために設計された高性能機器です。この顕微鏡は、高解像度の電子ビームを使用してサンプル表面の3D画像を生成し、解像度は1nmと低くなります。HITACHI I 6300は、二次電子イメージング（SEI）、後方散乱電子イメージング（BSEI）、 X線元素マッピング（EDX）、エネルギー分散X線分光法（EDS）、波長分光法（Wavelength Dispersive）などの広範な解析機能を備えています。この顕微鏡はまた、SEMと可変圧力走査型電子顕微鏡イメージング（VPSEM）の両方を同時に行うことができるデュアルビームシステムを備えています。I-6300にはAdvanced Beam Technology （ABT）ユニットがあり、安定性と解像度の面で他のSEMを上回ることができます。ABTマシンは、速度とフレーム数をスキャンして信号対ノイズ比を最適化します。ABTツールは信号対時間比を向上させ、より高速なデータ取得を可能にします。この顕微鏡は、感度とコントラストを向上させる新しいタイプの高解像度低ノイズ検出器を使用しています。この検出器は、コンパクトな読み出しアセットの上に細かいメッシュで構成されており、高解像度の画像処理が可能です。この顕微鏡はまた、高度なX線ソースを内蔵しており、単一のモデル内で正確かつ再現可能なX線マッピングとEDX解析を可能にします。HITACHI I-6300の試料室は、最適な動作条件を提供するように設計されています。真空、低圧など幅広いサンプルに対応できる特殊な環境と、大型サンプルホルダーを備えています。真空レベルは特別な制御弁および自動化されたガス管理装置と調節可能です。I6300は、生物標本、材料科学、半導体ウェーハ解析、ナノ構造特性評価など、幅広いイメージング用途に使用できます。この顕微鏡は、高解像度のイメージング機能を備えており、さまざまなサンプル表面に詳細な画像を生成することができます。また、特殊な自動イメージングモードを備えているため、ルーチン監視や欠陥検出など、さまざまな自動化タスクに適しています。