中古 HITACHI HD-2300 #9281980 を販売中

HITACHI HD-2300は、材料分析およびプロセス制御における高度なアプリケーションの要件を満たすように設計された、包括的な走査型電子顕微鏡（SEM）です。高解像度イメージング、高解像度元素解析、熱膨張係数の低い精密なサンプル移動、高速イメージングおよび組成解析のための新しい高速分析装置を提供します。HITACHI HD 2300は、高電圧電源と高度な高真空（HV）システムを備えた高性能フィールド放出電子銃（FEG）を搭載しています。FEGは、より高い空間分解能とより薄い標本を撮影する能力により、イメージング性能を向上させます。HVユニットは、1。3 × 10-3Paまでの高真空動作をサポートし、検出感度は安定しています。さらに、高さや傾きHD-2300調整可能なプログラム可能なサンプルステージ、低背地検出器、リアルタイムのパーティクルモニターなどの追加コンポーネントも備えています。イメージング用に、HD 2300は低コントラストイメージング（LCI）および二次電子イメージング（SEI）を提供します。LCIに小さい粒子の相違に対する感受性があります；これは、粒子組成に大きな違いがあるサンプルを画像化し、要素の横方向の分布を詳述することができることを意味します。さらに、SEIは非導電性サンプルのための有用なイメージングツールであり、優れた画質を提供します。HITACHI HD-2300は独自の自動解析機を搭載しており、サンプルの素早く正確な組成解析が可能です。このツールには、二次電子エネルギー分光法（ISS）、パルス雪崩カウンタースキャン（PACS） X線マッピング、および自動粒子サイズ測定アセットなどの元素X線分析が装備されています。HITACHI HD 2300は、2次元平面内の要素の選択分布と3次元配置を解析することができます。精密なサンプル移動を容易にするために、HD-2300はまた高精度の微細な段階を提供します。このステージには、サンプルステージシフターが装備されています。このシフターは熱膨張係数が高いため、繰り返しスキャンを必要とするサンプルに最適です。HD 2300には、試験片の正確な位置決めを可能にする高精度の測定モデルも含まれています。HITACHI HD-2300は、高度な機能、耐久性のあるコンポーネント、直感的なユーザーインターフェースを組み合わせています。これらの側面のおかげで、さまざまなサンプルから情報を抽出するための強力で信頼性の高いツールです。さらに、強化された画像処理機能により、便利な画像データ管理と正確な分析を提供します。