中古 HITACHI HD-2300 #293830390 を販売中

HITACHI HD-2300は、幅広いサンプルに高解像度のイメージングと分析機能を提供できる走査型電子顕微鏡（SEM）です。複数のイメージングモード、傾斜可能な試料ステージ、EDX検出器、および二次および後方散乱電子信号を測定する機能など、幅広い機能を備えています。HITACHI HD 2300の主なイメージングモードは、走査型電子ビーム（SEB）モードです。このモードは、5倍から1000万倍までの倍率でサンプルの高解像度画像を提供することができます。SEBモードは、二次電子画像だけでなく、後方散乱電子画像を取得することも可能です。HD-2300には、電動のX-Y試料傾斜ステージも含まれています。この段階では、サンプルを360度まで傾けることで、その場での画像データをより良く取得することができます。この傾斜ステージは、ステージアングルSEM （SA-SEM）イメージングを自動化する機能も提供します。HD 2300のもう一つの大きな特徴は、エネルギー分散X線分光計（EDX）です。この分光計は、顕微鏡のサンプルの定性的かつ定量的な元素分析を最大10ミクロン以上の深さまで提供します。BeからU。 HITACHI HD-2300は、二次電子信号（SE）や逆散乱電子信号（BSE）を測定する機能も備えています。これらの信号は、特定の構造や材料の種類を識別できるイメージング機能を提供します。二次電子検出器（SED）と後方散乱電子検出器（BED）は、両方とも試料とその構造の組成に関する追加情報を提供します。要するに、HITACHI HD 2300はイメージングおよび分析機能を提供する強力な走査型電子顕微鏡です。SEBイメージングモード、電動X-Y試料傾斜ステージ、EDX分光計、およびSE信号とBSE信号の両方を測定する機能が含まれています。これらの機能を組み合わせることで、HD-2300はサンプル特性評価のための強力なツールとなります。