中古 HITACHI H-7600 #9096278 を販売中

HITACHI H-7600は、イメージング、化学組成解析、精密材料分析用に設計された高解像度走査型電子顕微鏡（SEM）です。スタンドアロンのスキャン電子機器と複数の分析モジュールを備えています。この実験装置は、最高水準の分析性能、信頼性、およびユーザーフレンドリーな機能を提供し、操作を容易にします。パワフルなH-7600走査型電子顕微鏡は、最先端のエネルギー分散型X線分光計（EDS）モジュール、焦点イオンビームカラム、Bモード（ミクロンレベル）分解能を備えています。この機械/電気システムは、優れたイメージングと高精度な解析機能を提供し、幅広い材料に対応します。HITACHI H-7600のイメージングユニットは、独自のMAXGディテクタ設計とジェミニコラムレンズにより、幅広いイメージング構成が可能です。そのイメージングマシンは、ハイエンドの性能と汎用性の両方を提供します。H-7600の明るいフィールドおよびバックスキャッター検出器は、1 µmの薄い材料の高解像度画像も提供します。このツールにナノ対応スロットが追加され、ナノオブジェクトの低電圧イメージングが可能になりました。HITACHI H-7600のEDSアセットは、幅広い要素解析機能を提供します。最大10keVの分析範囲、リチウム漂流シリコン検出器、ペルチェ冷却真空チャンバーを備えたエネルギー分散型X線分光計を搭載しています。H-7600は、検出限界と解像度の広いEDS解析モデルも備えており、さまざまなサンプルやアプリケーションとの互換性を提供します。HITACHI H-7600は、高解像度CCD検出器を搭載した集中イオンビームカラムも備えています。このコラムは、ナノメートルスケールで材料断面の正確な画像を提供するように設計されています。また、ラインエッジプロファイルやナノ加工パターンの高解像度画像を作成するためにも使用されます。H-7600 Scanning Electron Microscopeは、材料研究者やその他の科学および産業用アプリケーションにとって貴重なツールです。その高度な分析およびイメージング機能により、故障解析や半導体の特性評価など、幅広い用途で業界をリードする機器となりました。