中古 HITACHI H-7600 #293827674 を販売中

製造業者
HITACHI
モデル
H-7600
ID: 293827674
Transmission Electron Microscope (TEM).
HITACHI H-7600電子走査顕微鏡(HITACHI electron scanning microscope)は、表面地形、結晶構造、バルク解析情報の特徴を特定し、高解像度の画像を作成するために使用される分析装置です。それは可視光と干渉コントラスト効果に依存する光顕微鏡の拡張です。この装置は電子ビームを利用して、細かく焦点を当てたビームでサンプル表面をスキャンして画像を生成します。約2nmの分解能を持ち、導通面または絶縁面を有するサンプルのサブミクロン分解能顕微鏡を可能にします。電子ビームは、加熱されたタングステン源からの自由電子の加速から作成されます。画像は、リニアスキャンモード、セクタースキャンモード、オーバースキャンモード、スポットスキャンモードなど、さまざまなスキャン技術で作成されます。また、エネルギー分散型X線分光計や電子エネルギー損失分光計と組み合わせることで、表面元素の定量分析を行うことができます。H-7600走査型電子顕微鏡はユーザーに染色を加える必要なしに高解像度の映像を撮る独特な機能を与えます。これにより、より高いコントラスト画像やコントラスト感度の向上など、光顕微鏡に比べて幅広い分析上の利点を提供するとともに、試料調製時間とコストを削減することができます。さらに、システムのセンシティブ検出器の設計により、弱い信号を検出し、より小さな機能に集中することができます。システムの光学は高精度レンズから成り、スキャンのビームのサイズ、エネルギー、流れおよび深さのようないくつかの変数で調節可能です。これにより、イメージのコントラストが希望のディテールと解像度と一致するようになります。高いスキャン分解能のために、単位は3次元のイメージ投射の機能のための自動化された段階に接続することができます。さらに、ボクセルベースのイメージングをサポートすることで、顕微鏡で取得した情報のデータ取得・解析が強化されています。Voxelベースのイメージングにより、光学顕微鏡と電子顕微鏡の両方と組み合わせて、ピクセル強度と形状に基づいたサンプル情報の取得と分析、および表面プラズモン共鳴の分光測定が可能になります。HITACHI H-7600機は、高度な分析研究に最適な汎用性と信頼性の高い機器です。機能と機能により、機能とサンプルの正確で詳細な画像を取得するための適切なツールをユーザーに提供します。分解能、感度、速度の優れた組み合わせであり、このユニークな組み合わせの使用法のレビューは、材料の研究と分析で高く評価され続けています。
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