中古 HITACHI H-7000 #293594719 を販売中
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ID: 293594719
Transmission Electron Microscope (TEM)
Power supply: 110-240 V, ±10%, Single phase, 50-60 Hz, 6.5 kVA.
HITACHI H-7000走査型電子顕微鏡は、材料の研究と試験のための高性能ツールです。高解像度画像や多機能自動機能を実現し、より正確な測定・観察・解析が可能です。H-7000は電子ビームの精密な標本操作および操作のための使いやすいユーザーインターフェイスを提供します。これは、材料の構造、形態、結晶格子、物理的、および化学的特性を特徴付けるための貴重な資産です。HITACHI H-7000は、強力な電子ビームを生成するための1000倍の高倍率と電子エミッタの配列を提供します。また、より広い倍率範囲を実現するために、インレンズ引き込み式検出器を装備しています。このシステムは、より高度なレベルで構成することができ、研究者にさらに詳細なレベルを提供します。高解像度画像と高度なデジタル制御の組み合わせにより、H-7000は顕微鏡や研究に理想的な選択肢となります。HITACHI H-7000には電磁界(EMF)チャンバーが搭載されており、電子銃を使用して動作する必要があり、より精度の高い試料操作環境を提供します。さらに、このシステムは革新的な自動背景補正機能を使用しており、イメージングおよび測定プロセス中に手動で調整する必要がありません。自動化されたデジタル読み取りタッチスクリーンコントロールパネルが提供され、精密分析を開始し、ワークフロー効率を向上させます。試料分析をさらに強化するために、H-7000にはEDX、 PED、およびLA-ICPMS機能が装備されています。また、ストレステストや疲労強度特性評価などの物理的なテストを行うことができます。この走査型電子顕微鏡は、ナノファブリケーション、化学組成イメージング、マイクロプロブイメージングなど、さまざまな特殊用途にも対応しています。直感的で包括的なユーザーインターフェースにより、HITACHI H-7000のユーザーフレンドリーなエクスペリエンスが向上します。H-7000走査型電子顕微鏡は、研究と試験のための強力で包括的なツールです。その高解像度画像と包括的なオートメーションは、材料標本の特性評価に有利です。電磁場チャンバー、自動バックグラウンド補正機能、EDX、 PEDおよびLA-ICPMS機能は、すべてが多くのアプリケーションに対応する強力な機器になることに貢献しています。
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