中古 HITACHI FS300i Type II #9203965 を販売中

HITACHI FS300i Type IIは、マイクロアナリシス用に設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。コールドフィールドエミッション高輝度源（FEG-HBS）を採用した低真空SEM （LV-SEM）で、高解像度のイメージング機能を提供します。SEMは、0。5〜30kVのエネルギー範囲での画像取得が可能であり、標本の様々なサイズや形状をサポートするサンプルステージを備えています。LV-SEMは、イメージング性能と自動運転における最新技術を提供します。Hyper Face Mapping Equipment （HFMS）を使用して、サンプルを3方向から同時にスキャンできます。サンプルデータの比較も可能で、高精度な解析が可能です。また、AFR （Auto Feature Review）を搭載しており、対象となる機能を自動的に識別し、リアルタイムで画像パラメータを調整して画質を最大化します。FS300i タイプIIは、優れた解像度とコントラストを提供します。コールドフィールドエミッション高輝度ソースは、低騒音レベルの高解像度画像を取得することを可能にする非常に集中した電子ビームを生成します。電子ビームも安定した電流で維持され、一貫した信号対ノイズ比が保証されます。このユニットは、ユーザーフレンドリーかつ低メンテナンスであるように設計されています。人間工学に基づいた設計により、SEMとの簡単で快適な相互作用を可能にします。内蔵の空気真空機は、ライブサンプルの高速で互換性のある環境も保証します。HITACHI FS300i Type IIには、ソフトウェア機能も豊富に搭載されています。これらの機能には、自動化されたバッチバッティングと統一（ABU）、 Off-axis Back-Scattered Imaging （OBI）、 Curve Fittingなどがあり、さまざまなアプリケーションで使用できる機能が強化されています。また、検出器やイメージングアクセサリーの大規模な選択と互換性があります。FS300i Type IIは、強力で高解像度のSEMを必要とするあらゆる研究室に理想的な選択肢です。高輝度ソース、自動化された操作、人間工学に基づいた設計、ソフトウェア機能により、最適な分析結果を達成するための効率的で信頼性の高いツールをユーザーに提供します。