中古 HITACHI FS200i II #293605451 を販売中

HITACHI FS200i IIは、幅広い用途向けに設計された高解像度走査型電子顕微鏡（SEM）です。電子光学設計、画像解析、試料作製の最新技術を組み合わせ、金属からポリマーまで、さまざまな材料の鮮明で詳細な画像を生成します。その中心にFS200i IIはマルチモード検出器で構成されています。これは、1。2nmの分解能でサンプルの電子画像を収集するための強力なツールです。マルチモード検出器を使用すると、2次電子イメージング、背面散乱電子イメージング、および同時イメージングの3つのモードを切り替えることができます。また、日立FS200i IIはコールドフィールドエミッションガンを使用しています。これは電子の急速な加速を可能にする。この銃で加速された電子はエネルギーが低く、より詳細な画像になり、サンプルの損傷が少なくなります。FS200i IIは電子光学工学を利用して電子ビームを形成、加速し、サンプルに集中させます。静電気レンズシステムを利用することで実現しています。このシステムの内側のレンズはシステムの後部に配置され、電子銃のビームを制御してフォーカスするために使用されます。HITACHI FS200i IIの主な分析およびイメージング機能には、スキャン電子トポガフィ、エネルギー分散型X線分析、X線エレメンタルマッピング、および二次電子イメージングがあります。これらの手法は、多種多様な材料を分析し、特徴付けるために使用することができます。さらに、FS200i IIは、低真空、高真空、サイドエントリPt/Pdコーター、および低真空エッチングプロセスという高度な試料調製技術を持っています。Low Vacuum技術を使用すると、真空を壊すことなく数歩の処理を行うことができます。これにより、サンプルの取り扱いと汚染制御が容易になります。HITACHI FS200i IIは、教育機関のニーズを満たすために、教室と実験室の両方のバージョンで利用できます。教育バージョンでは、顕微鏡は、ユーザーが顕微鏡の強度と解像度を調整するために、異なるレンズを切り替えることができます。結論として、FS200i II走査型電子顕微鏡は、優れた画像透明性、多様な分析方法、高度な試料調製技術を提供します。幅広い材料で鮮明で高解像度の画像を生成することができ、研究や教育のための汎用性と強力なツールとなっています。