中古 HITACHI Focused Ion Beam (FIB) #293754408 を販売中

日立フォーカスイオンビーム（FIB）装置は、顕微鏡の分野、特に材料科学とナノテクノロジーの分野で活用されている先進的なツールです。日立FIBは、最先端の技術を取り入れ、焦点イオンビーム（FIB）カラムを搭載した走査型電子顕微鏡（SEM）で構成されています。この統合により、高解像度のイメージング、精密なフライス加工、およびナノスケールレベルでの蒸着機能が可能になります。このシステムの汎用性により、サンプル準備、デバイス変更、故障解析、回路編集など、幅広いアプリケーションが可能になります。日立FIBユニットの中心には、ガリウムイオンの集光ビームを発するFIBカラムがあります。これらのイオンは高いエネルギーを持ち、サンプル表面の特定の領域に正確に向けることができます。焦点を当てたイオンビームは、スパッタリングを介して材料をフライス加工したり、イオンビーム誘導堆積を介して材料を堆積させたり、リソグラフィ工程を通じて微細な構造を作成するなど、さまざまな用途に使用できます。さらに、FIBを使用して、断面を横断するサンプルを内部構造を観察したり、特定の場所に材料を正確に除去または追加することで回路編集を行うことができます。日立製作所のSEMは、FIB機能を補完し、高解像度のイメージング機能を提供します。SEMは電子ビームを利用してサンプル表面をスキャンし、数十倍から数十万倍の詳細な画像を生成します。これにより、ミクロおよびナノスケールのレベルでサンプルの特徴を可視化することができ、材料の形態、構造、組成に関する貴重な洞察を提供します。日立ツールのFIBとSEMコンポーネントの相乗効果は、様々な分野の研究者や科学者にとって比類のない能力を提供します。FIBを使用して、SEMイメージングを通じて特定された特定の関心領域を正確にターゲットにすることができ、対象となる材料の除去または変更を容易にします。この精度は、ナノ構造の製造、マイクロデバイスのプロトタイピング、材料の故障メカニズムの調査、ナノスケールの半導体デバイスの解析などの用途に不可欠です。HITACHI FIBアセットは、イメージングおよびミリング機能に加えて、現場での実験や分析もサポートしています。研究者は、イオンビームの影響下でサンプル反応をリアルタイムで観察したり、サンプル表面で発生する動的プロセスを研究したりすることができます。日立FIBは、時間の経過や特定の環境条件下で進化する現象を研究するための貴重なツールです。また、HITACHI FIBモデルには高度な自動化・制御機能が搭載されており、実験の生産性と再現性を高めています。ユーザーは繰り返しタスクの自動ワークフローを作成し、サンプルの準備と分析の一貫性を確保できます。この機器のソフトウェアインターフェイスは、直感的な操作とデータ分析および可視化ツールとのシームレスな統合を可能にし、全体的な実験ワークフローを合理化します。結論として、日立フォーカスイオンビーム（FIB）システムは、フォーカスイオンビームのパワーと高解像度スキャン電子顕微鏡を組み合わせた最先端の装置です。イメージング、フライス加工、マテリアルマニピュレーションの高度な機能により、材料科学、ナノテクノロジー、半導体研究などの幅広い用途に対応する汎用性の高いツールとなっています。日立FIBユニットは、その精度、柔軟性、そしてその場での能力により、研究者が科学的な探求と技術革新の境界を押し上げることを可能にします。