中古 HITACHI FB-2100 #293809753 を販売中

製造業者
HITACHI
モデル
FB-2100
ID: 293809753
ヴィンテージ: 2005
Focused Ion Beam (FIB) system Resolution: 6 nm, 700x to 90,000x Ion source: Ga ions 1,000 h Lens system: 2-Stage electromagnetic lens Astigmatism correction: Octopole electrostatic system X, Y Detection: Octopole electrostatic system Blanking: Electrostatic system Aperture: CPU Controlled system, 7 settings Processing speed: 1.0 μm/s Current density: 25 A/cm Secondary electron detector: Scintilator type detector with photomultiplier amplifier Power supply: 40 kV Part number: 410-0191 2005 vintage.
HITACHI FB-2100は、インレンズ二次電子(SE2)検出器を搭載した走査型電子顕微鏡(SEM)です。サンプルが電子でスキャンされる際に分析される物体の3次元ビューを提供します。さらに、試料の形状、サイズ、表面トポロジーの測定にも使用できます。この顕微鏡は、最大30KVの高張力を利用して電子を加速します。試料はX-Yステージでラスタースキャンされ、インレンズSE2検出器の助けを借りて試料表面に焦点を合わせます。SEMは約95マイクロメートルの開口部を持ち、二次電子で1。0 nmの分解能を得ることができます。HITACHI FB 2100には、試料表面に存在する元素を測定することにより、試料の表面化学を分析することができる逆散電子(BE)検出器があります。イメージング機能に関しFB-2100は、最大4,000倍の倍率でサンプル表面の画像をキャプチャすることができます。また、5,000x倍率までの測定で、0。1nm精度の高い超小型機能の解析も可能です。SEMは、自動画像ステッチにも使用でき、キャプチャした画像を結合してより大きなエリアマップを作成できます。スキャンからの出力は、専用ソフトウェアを介して表示、保存、さらに分析できるデジタルデータです。ソフトウェアは、ユーザーがデータ内の機能を識別し、分析するのに役立ちます。全体として、FB 2100は、材料の高精度な測定と分析を行うための理想的なツールです。SEMは、3次元画像を作成し、高精度で小さな特徴を測定し、表面化学を分析する能力は、医療機器や電子機器などの多くの業界で非常に重要です。
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