中古 HITACHI FB-2000 FIB / HD-2000 #71521 を販売中

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ID: 71521
ヴィンテージ: 2001
Scanning Transmission Electron Microscope (STEM) 0.24nm resolution 2 million magnification 20 faster than TEM Z-contrast transmitted image Windows based user interface Small, requires 4x5 meter room FB-2000 is a focused ion beam tool used for sample preparation Capable of producing extremely high resolution images of submicron structures Capable of elemental analysis on submicron features using an x-ray detector that is part of the system Both tools share inter-compatible sample holders which make transitions the sample from one tool to the other seamless The STEM needs to be repaired Low cost roughing pump needs to be replaced High voltage supply needs to be repaired Currently installed 2001 vintage.
日立FB-2000 FIB/ HD-2000は、SEMのイメージング機能とフォーカスイオンビーム(FIB)技術を組み合わせた走査型電子顕微鏡(SEM)です。この2つの技術を組み合わせることで、ナノ構造のイメージングと加工が可能になります。FIB技術を使用すると、サンプルを粉砕してイメージング用に準備し、高解像度のイメージングおよび分析用にスキャンすることができます。FB-2000は、高倍率・高解像度で優れた画質を提供する高出力場発光銃(FEG)を搭載しています。また、サンプルの位置決めや操作のための高精度ステージも備えています。これにより、幅広いサンプルサイズと種類の正確で再現性の高いイメージングが可能になります。このFB-2000は、低真空、中真空、高真空モードでのイメージングが可能です。HD-2000は、画像の高解像度と高速取得をサポートするFB-2000の新機能です。これにより、最大1000xの高倍率および解像度、および画像の自動処理および分析が可能になります。また、HD-2000は視野の迅速なスキャンにも対応しているため、サンプルの領域固有の分析に最適です。アクセサリーに関しては、このFB-2000はEDX、 EELS、 SPM、 BSEなど、さまざまな検出器および検出器システムと互換性があります。また、サンプルの複雑かつ包括的な分析を可能にする、幅広い自動解析および処理ソフトウェアをサポートしています。FB-2000/ HD-2000は使いやすいユーザーインターフェイスを備えており、操作が簡単で直感的です。このユニットには、包括的なトレーニングマニュアルと専用のテクニカルチームのサポートも含まれており、ユーザーがユニットから最大限に活用できるようにしています。全体として、FIB/ HD-2000 FB-2000ナノ構造のイメージングと解析に最適です。FIBとSEMを組み合わせることで、高解像度と倍率で優れた画質を提供します。その検出器やソフトウェアプログラムの広い範囲だけでなく、直感的なユーザーインターフェイスは、さまざまなアプリケーションでの使用に最適です。
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