中古 HITACHI CG 4000 #293774188 を販売中

製造業者
HITACHI
モデル
CG 4000
ID: 293774188
ウェーハサイズ: 12"
Scanning Electron Microscope (SEM), 12" Image resolution: 1.8 nm Reproducibility: 0.4 nm CD Measure range: 0.045 to 2.0 µm Accelerate voltage: 300-1600 Movement range: 0-300 mm VR+VB SED Stability Laser head.
HITACHI CG 4000は、高解像度イメージング機能と多彩な解析機能で知られる先進的な走査型電子顕微鏡(SEM)です。HITACHI CG4000は、材料科学、生命科学、地質学、ナノテクノロジーなど、さまざまな分野の研究機関、大学、産業研究所の要求に応えるように設計されています。CG-4000の中心には、ナノメートルスケールで優れた画像解像度を提供する高性能の電子カラムがあります。SEMはフィールドエミッションガン(FEG)を搭載し、高輝度かつ安定性のある集光電子ビームを生成することができ、優れた透明性とコントラストを持つサンプル表面の詳細な可視化を実現します。FEGはまた、高められたビーム制御とプローブ電流安定性を提供し、幅広い種類のサンプルタイプと用途において信頼性の高い再現性の高い画像処理結果を保証します。CG4000は、効率的なビームフォーカス、スキャン、およびイメージングのための様々な電磁式および静電式レンズを含む高度な電子光学機器を備えています。この洗練された光学設計により、ユーザーは優れた解像度と被写界深度を持つサンプルの微細構造的特徴と表面形態を探索することができます。さらに、SEMには二次電子(SE)や逆散乱電子(BSE)検出器など複数の検出器が搭載されており、地形情報と組成情報を同時にキャプチャすることができます。HITACHI CG-4000の強みの1つは、多彩な分析機能で、サンプル特性を詳細に解析するための幅広い特性解析技術を提供することです。SEMには、元素分析用のエネルギー分散型X線分光法(EDS)検出器が搭載されており、高感度で空間分解能の高いサンプルの化学組成を特定し、定量化することができます。統合されたEDSシステムは、データ取得、処理、要素マッピングのための高度なソフトウェアパッケージによって補完され、ユーザーに詳細なサンプル特性評価のための包括的な分析ツールを提供します。また、EDSに加えて、電子後方散乱回折(EBSD)やカソドルミネッセンス(CL)イメージングなどの分析技術もサポートしており、顕微鏡でのサンプルの結晶配向や光学特性を調べることができます。これらの分析ツールをSEMプラットフォームとシームレスに統合することで、マルチスケールおよびマルチモーダルのイメージングと解析を実行でき、サンプルの特性と挙動を総合的に理解できます。HITACHI CG 4000は、ユーザーフレンドリーなソフトウェアインターフェースと直感的なコントロールで設計されており、初心者でも経験豊富なユーザーでも簡単にユニットを操作できます。SEMは、自動化されたイメージング機能、高度な画像処理ツール、カスタマイズ可能なイメージングモードを提供し、ユーザーが特定の研究要件に合わせて実験パラメータを調整することができます。さらに、このマシンには、長期的な信頼性とパフォーマンスの安定性を確保するための包括的な安全機能とメンテナンスプロトコルが装備されています。要するに、日立CG4000走査型電子顕微鏡は、高解像度イメージング機能と高度な分析機能を組み合わせて、研究者や科学者にマイクロナノとナノの世界を探索するための強力なツールを提供します。最先端の技術、汎用性、ユーザーフレンドリーなインターフェースにより、CG-4000は顕微鏡や材料特性評価の分野でSEM性能と汎用性のための新しい標準を設定します。
まだレビューはありません