中古 HITACHI CG 4000 #293629659 を販売中
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ID: 293629659
Scanning Electron Microscope (SEM)
Resolution: 1.8 nm
Throughput: 36 Wafer/hour
MAM Time: 3.4s
Stage landing accuracy: ±1 µm.
HITACHI CG 4000 Scanning Electron Microscope (SEM)は、顕微鏡用に設計された最先端のイメージング装置です。この顕微鏡は、広い視野スキャン電子源に基づいており、これを高分解能イメージングシステムと結合させ、標本の迅速な分析を可能にします。HITACHI CG4000は非常に汎用性の高い電子設計を採用しており、小型から大型まで幅広い機能を観察することができます。この汎用性は、ソース設計と高度なイメージングユニットの組み合わせによって達成されます。このモデルは、ナノメートルスケールまで高解像度のイメージングを提供することができる電子源を提供しています。機械内部の120kWの巨大な発電機は、効率的なビームスキャンと分解能機能を確保するために十分な電力を供給します。このジェネレータは、2つのXマグレンズと2つの大きなドブテールレンズを含む12レンズのセットとペアリングされています。これらのレンズを組み合わせることで、電子ビームがサンプルを正確に貫通し、望ましい構造を明らかにすることができます。スキャン電子源に加えて、CG-4000は大口径の長時間作動距離の対物レンズを提供します。このレンズは、最大750,000xの一次倍率を持つ断面を観察できるように特別に設計されています。これは、このツールが5ナノメートルのサイズの構造を解決できることを意味します。また、高コントラストで画像を記録することも可能で、観察した部分を正確に解析することができます。この顕微鏡はまた、画像のより正確な焦点を可能にする高い数値開口対物レンズを備えており、他のモデルよりもさらに優れた解像度を可能にします。この数値絞りにより、より高い倍率で低解像度の標本を観察することができます。CG 4000の堅牢な設計により、さまざまなアプリケーションで使用できます。医療用途から産業用途まで、幅広い分析が可能です。これには分光分析、化学分析、さらには欠陥解析が含まれます。この機器には洗練されたソフトウェアスイートが付属しており、幅広いユーザーにとってこれらの分析を容易にするのに役立ちます。CG4000は強力で汎用性の高い走査型電子顕微鏡で、最先端のイメージングと分析機能をユーザーに提供します。このシステムは、強力な電子源と、正確で正確な観測を可能にする高度なイメージングユニットで設計されています。また、高度なソフトウェアスイートと大口径の対物レンズを備えており、ユーザーにさらに優れた解像度を提供します。最終的に、これらの機能により、HITACHI CG-4000は様々な分析やイメージング作業に最適です。
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