中古 HITACHI 6400 #9136774 を販売中

HITACHI 6400は、あらゆる材料における微小構造やナノ構造の高分解能イメージングと解析を可能にする走査型電子顕微鏡（SEM）です。6400は、ナノメートルサイズのサンプルの高解像度画像を提供するコールドフィールドエミッション（CFE）ガンを搭載しています。CFEガンはまた、電子ビーム電流が非常に低い高精度イメージングのためのノイズ低減装置を使用しています。HITACHI 6400には、低真空観測のための可変圧力モード、熱変換スキャン、デュアルディテクタシステムなどの高度な機能が搭載されています。この二重検出器は、試料の表面と深さを観察することができるバックスキャッター検出器と二次電子検出器で構成されており、試料の表面に関するより詳細な情報を得ることができます。6400はまた、エネルギー分布を評価し、スキャンされた画像のコントラストを高めることを可能にする二次電子エネルギー信号を備えています。また、分子構造を解析するためにサンプルから放出されるガスを検出するために使用されるガス相検出器も含まれています。SEMには、さまざまな用途で機械をカスタマイズするために使用できる幅広いアクセサリーも含まれています。これらのアクセサリーには、さまざまなタイプの検出器、レンズ、サンプルの位置決めと処理のためのステージが含まれます。HITACHI 6400は粒子や微細構造の大きさ、形状、表面の質感を測定することができます。また、サンプルの電気的、磁気的、光学的、表面化学的特性を測定することもできます。また、EDSまたはWDS検出器システムを使用することで、サンプルの組成に関する定量的な情報を得ることができます。6400には、データの取得と分析を容易にする強力なユーザーフレンドリーなソフトウェアスイートが付属しています。それは自動機能をのような含んでいます；オートフォーカス、アライメント、画像ステッチ、リアルタイムスライスと統合、パターン分析、3次元再構築、統計分析、およびモザイク処理。全体的に、HITACHI 6400は強力で洗練された走査型電子顕微鏡で、ナノメートルサイズのサンプルの高解像度画像をユーザーに提供することができます。小粒子や微細構造の正確かつ詳細なイメージングと分析を必要とする研究者や科学者にとって理想的なツールです。