中古 HITACHI 5500M #293752889 を販売中
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ID: 293752889
Atomic Force Microscope (AFM)
Tower
Detector
Pump
Chiller
External control rack
Specimen holder
Power supply
PC.
HITACHI 5500Mは、高性能スキャン電子顕微鏡（SEM）で、様々な研究分野の研究者や研究者に高度なイメージング機能を提供します。この最先端の装置は、材料科学、生命科学、地質学、半導体研究などに不可欠なツールとして、幅広いサンプルの高解像度イメージング、元素分析、表面特性評価を提供するように設計されています。5500Mの中核には、先進的な電子銃の技術、電磁レンズ、そしてナノメートルスケールの精度で高解像度のイメージングを可能にする検出器を含む電子光学システムがあります。HITACHI 5500Mには、低ビーム電流で高集積電子ビームを生成する電界放出電子銃が搭載されており、優れた画像解像度と信号検出感度を実現しています。電子ビームは、サンプル表面を正確に制御してスキャンし、サンプルの特徴の詳細な画像を数倍から100万倍にまで拡大してキャプチャします。5500Mは、サブナノメートル分解能で表面の地形や組成情報をキャプチャできる高分解能の二次電子検出器を備えており、ナノ構造、薄膜、複雑な表面形態の研究に最適です。HITACHI 5500Mは、イメージング機能に加え、サンプルの元素解析用のエネルギー分散型X線分光計（EDS）を搭載しています。EDSシステムは、電子ビームがサンプルと相互作用する際に放出される特徴的なX線を検出することにより、材料の化学組成を特定し、定量化することができます。この能力は、サンプル内の元素分布を分析し、汚染物質を特定し、異種材料の元素組成の変動を研究するために特に有用である。5500Mには、ラインスキャン、エリアスキャン、エレメンタルマッピングなど、さまざまな自動およびカスタマイズ可能なイメージングモードがあり、効率的にデータを収集し、詳細な画像や分析結果を生成することができます。直感的なソフトウェアインターフェイスにより、イメージングパラメータの簡単な操作と制御、高度なデータ処理および分析機能が可能です。また、HITACHI 5500Mでは、非導電性試料の可変圧力モード、結晶構造解析用の電子後方散乱回折（EBSD）、特定の温度・湿度条件下で試料を研究するための環境制御システムなど、さまざまなアクセサリーやオプションのアドオンを提供しています。全体的5500M、高解像度イメージング、元素解析、高度なイメージングモードを組み合わせ、科学者や研究者の多様な研究ニーズに対応する汎用性と強力なSEMシステムです。HITACHI 5500Mは、卓越したパフォーマンス、ユーザーフレンドリーなインターフェース、カスタマイズ可能な機能を備え、正確なイメージングと分析機能を必要とする幅広い科学分野にとって不可欠なツールです。
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