中古 HITACHI 4600 #9244798 を販売中

HITACHI 4600 scanning electron microscope （SEM）は、多種多様な材料の地形的および構造的特徴の探索を可能にする強力なイメージングおよび分析ツールです。この機器は、元素マッピングやラインスキャンなどの詳細なイメージングおよびマイクロアナリシス機能を提供します。4600 SEMの高解像度デジタルイメージング機能により、金属、ポリマー、複合材料など、ほぼすべての導電性材料のイメージングサンプルの観察が容易になります。微細な画像の需要を満たした高分解能の電界放射銃（FEG）を搭載しており、サブミクロン構造にも対応しています。この銃は低電流密度であり、サンプルの損傷を最小限に抑えながら1nm以下の解像度を提供します。HITACHI 4600 SEMの自動化された操作とユーザーフレンドリーなソフトウェアにより、幅広い材料特性評価アプリケーションに最適です。自動化されたスティグメータ制御により、サンプルの分析は手動操作で大幅に簡素化されました。AutoScanシステムは、手動入力を必要とせずに、サンプルのフォーカシング、スティグメーション、輝度、コントラストなどを制御します。SEMには、元素分析用の統合されたEDS X線検出器システムが含まれています。汎用性の高いX線システムにより、単一素子マッピング、フルスペクトルEDX解析、絶縁ピーク測定など、さまざまなモードでデータを取得できます。エネルギー分散分光法（EDS： Energy Dispersive Spectroscopy）は、サンプル材料に関する定性的および定量的な情報を提供することができます。4600 SEMは冶金学、電子工学および環境工学を含む材料科学の研究のための重要な用具です。また、半導体産業においても、集積回路の検査・試験を通じて、自動車および航空宇宙産業において、故障解析や品質管理のための大きな役割を果たしています。HITACHI 4600 SEMは、高度なイメージングおよび分析機能により、材料の構造と組成をよりよく理解するために必要な洞察力を研究者に提供します。